| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| SJ/T 11846-2022 | 电压调整器低频噪声参数测试方法 | 现行 | 2023-01-01 | 相似 |
| GB/T 4376-1994 | 半导体集成电路 电压调整器系列和品种 | 现行 | 1995-04-01 | 相似 |
| JB/T 2664.1-2010 | 调压器用炭电阻片柱 第1部分：自动电压调整器用炭电阻片柱 | 现行 | 2010-07-01 | 相似 |
| GB/T 4377-2018 | 半导体集成电路 电压调整器测试方法 | 现行 | 2018-08-01 | 相似 |
| JB/T 2664.1-1999 | 调压器用碳电阻片柱 自动电压调整器用碳电阻片柱 | 废止 | 2000-01-01 | 相似 |
| GB/T 4377-1996 | 半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理 | 废止 | 1997-01-01 | 相似 |
| TB/T 2916-2017 | 铁道车辆用双向闸瓦间隙调整器 | 现行 | 2018-05-01 | 相似 |
| TB/T 3112.2-2017 | 铁路车站电码化设备 第2部分：发码、检测、调整器 | 现行 | 2018-04-01 | 相似 |
| SJ/T 11845.3-2022 | 基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法 第3部分：二极管 | 现行 | 2023-01-01 | 相似 |
| SJ/T 11768-2020 | 电阻器低频噪声参数测试方法 | 现行 | 2021-04-01 | 相似 |
| SJ/T 11767-2020 | 二极管低频噪声参数测试方法 | 现行 | 2021-04-01 | 相似 |
| SJ/T 11766-2020 | 光电耦合器件低频噪声参数测试方法 | 现行 | 2021-04-01 | 相似 |
| SJ/T 11765-2020 | 晶体管低频噪声参数测试方法 | 现行 | 2021-04-01 | 相似 |
| SJ/T 11845.2-2022 | 基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法 第2部分：光电耦合器件 | 现行 | 2023-01-01 | 相似 |
| SJ/T 11769-2020 | 电子元器件低频噪声参数测试方法 通用要求 | 现行 | 2021-04-01 | 相似 |
| SJ/T 11845.1-2022 | 基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法 第1部分：通用要求 | 现行 | 2023-01-01 | 相似 |
| JJF 1925-2021 | 低频电压表校准规范 | 现行 | 2022-04-18 | 相似 |
| GB/T 6589-2002 | 半导体器件 分立器件 第3-2部分:信号(包括开关)和调整二极管 电压调整二极管和电压基准二极管(不包括温度补偿精密基准二极管) 空白详细规范 | 现行 | 2003-05-01 | 相似 |