| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| T/UNP 239-2024 | 人造石英石 | 现行 | 2024-10-29 | 2024-10-29 |
| T/SA 44-2022 | 人造石英石板成套生产设备技术规范 | 现行 | 2022-04-20 | 2022-04-25 |
| T/SA 43-2022 | 人造超薄石英石板成套生产设备技术规范 | 现行 | 2022-04-20 | 2022-04-25 |
| JG/T 463-2014 | 建筑装饰用人造石英石板 | 现行 | 2014-12-04 | 2015-05-01 |
| JC/T 2535-2019 | 建筑用人造石英石和岗石墙板 | 现行 | 2019-08-02 | 2020-01-01 |
| JC/T 2534-2019 | 建筑用人造石英石和岗石地板 | 现行 | 2019-08-02 | 2020-01-01 |
| GB/T 11114-1989 | 人造石英晶体位错的X 射线形貌检测方法 | 废止 | 1989-03-31 | 1990-03-01 |
| GB/T 11113-1989 | 人造石英晶体中杂质的分析方法 | 废止 | 1989-03-31 | 1990-03-01 |
| GB/T 3351-1982 | 人造石英晶体的型号命名 | 现行 | 1982-12-27 | 1983-10-01 |
| GB/T 3352-2025 | 人造石英晶体 规范与使用指南 | 即将实施 | 2025-12-31 | 2026-07-01 |
| JC/T 185-2013 | 光学石英玻璃 | 现行 | 2013-04-25 | 2013-09-01 |
| JC/T 2851-2024 | 光学石英玻璃应力双折射试验方法 点扫描法 | 现行 | 2024-10-24 | 2025-05-01 |
| GB/T 25188-2010 | 硅晶片表面超薄氧化硅层厚度的测量 X射线光电子能谱法 | 现行 | 2010-09-26 | 2011-08-01 |
| GB/T 43894.1-2024 | 半导体晶片近边缘几何形态评价 第1部分：高度径向二阶导数法（ZDD） | 现行 | 2024-04-25 | 2024-11-01 |
| GB/T 26071-2018 | 太阳能电池用硅单晶片 | 废止 | 2018-09-17 | 2019-06-01 |
| GB/T 16595-2019 | 晶片通用网格规范 | 现行 | 2019-03-25 | 2020-02-01 |
| GB/T 14140-2025 | 半导体晶片直径测试方法 | 现行 | 2025-08-01 | 2026-02-01 |
| GB/T 13387-2009 | 硅及其他电子材料晶片参考面长度测量方法 | 现行 | 2009-10-30 | 2010-06-01 |