Test method for surface quality and micropipe density of polished silicon carbide wafers—Confocal and differential interferometry optics
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 23656-2016 | 橡胶配合剂 沉淀水合二氧化硅比表面积的测定 CTAB法 | 现行 | 2016-10-13 | 2017-05-01 |
| T/FSI 049-2020 | 气相二氧化硅表面硅羟基含量测试方法 | 现行 | 2020-04-30 | 2020-05-30 |
| T/FSI 049-2020 | 气相二氧化硅表面硅羟基含量测试方法 | 现行 | 2020-04-30 | 2020-05-30 |
| HS/T 47-2014 | 有机表面处理二氧化硅的鉴定方法 | 现行 | 2014-10-29 | 2014-12-01 |
| GB/T 30712-2014 | 抛光钻石质量测量允差的规定 | 现行 | 2014-03-27 | 2014-10-01 |
| NY/T 2460-2013 | 大米抛光机 质量评价技术规范 | 废止 | 2013-09-10 | 2014-01-01 |
| GB/T 31370.4-2015 | 平板显示器（FPD）彩色滤光片测试方法 第4部分：耐化学性 | 现行 | 2015-02-04 | 2015-10-01 |
| GB/T 26328-2010 | 生物化学分析仪器用干涉滤光片 | 现行 | 2011-01-14 | 2011-06-01 |
| GB/T 31370.3-2015 | 平板显示器（FPD）彩色滤光片测试方法 第3部分：耐热性 | 现行 | 2015-02-04 | 2015-10-01 |
| GB/T 31370.2-2015 | 平板显示器（FPD）彩色滤光片测试方法 第2部分：耐光性 | 现行 | 2015-02-04 | 2015-10-01 |
| GB/T 33049-2016 | 偏光片用光学薄膜 涂层附着力的测定方法 | 现行 | 2016-10-13 | 2017-05-01 |
| GB/T 19523-2004 | 缩微摄影技术 16mm与35mm 缩微胶片防光片盘与片盘 技术规范 | 现行 | 2004-05-31 | 2004-12-01 |
| GB/T 39075.203-2023 | 普通照明用有机发光二极管（OLED）光源 安全 第2-3部分: 特殊要求 柔性OLED光片和面板 | 现行 | 2023-12-28 | 2026-01-01 |
| JB/T 11532-2013 | 线性渐变中性密度滤光片 | 废止 | 2013-04-25 | 2013-09-01 |
| JB/T 13361-2018 | 紫外、可见和近红外光学滤光片 | 现行 | 2018-04-30 | 2018-12-01 |
| JB/T 7472-1994 | 16/35mm缩微卷片用防光片盘和片盘 | 现行 | 1994-09-08 | 1995-07-01 |
| JB/T 13360-2018 | 荧光检测分析用干涉滤光片 | 现行 | 2018-04-30 | 2018-12-01 |
| JB/T 13358-2018 | 光学薄膜带通干涉滤光片 | 现行 | 2018-04-30 | 2018-12-01 |