| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| T/IAWBS 015-2021 | 氧化镓单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法 | 现行 | 2021-09-15 | 2021-09-22 |
| T/IAWBS 014-2021 | 碳化硅单晶抛光片位错密度的测试方法 | 现行 | 2021-09-15 | 2021-09-22 |
| T/ZZB 2407-2021 | 单晶正极材料用镍钴锰三元素复合氢氧化物 | 现行 | 2021-09-02 | 2021-10-02 |
| T/ZZB 1927-2020 | 自动单晶硅棒切方机 | 现行 | 2020-11-20 | 2020-12-01 |
| T/CSTM 00033-2020 | 核辐射探测用无机光学单晶术语 | 现行 | 2020-08-03 | 2020-11-03 |
| T/IAWBS 013-2019 | 半绝缘碳化硅单晶片电阻率非接触测量方法 | 现行 | 2019-12-27 | 2019-12-31 |
| T/IAWBS 012-2019 | 碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度测试方法 ——共焦点微分干涉光学法 | 现行 | 2019-12-27 | 2019-12-31 |
| T/IAWBS 011-2019 | 导电碳化硅单晶片电阻率测量方法—非接触涡流法 | 现行 | 2019-12-27 | 2019-12-31 |
| T/IAWBS 010-2019 | 碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度检测方法-激光散射检测法 | 现行 | 2019-12-27 | 2019-12-31 |
| T/ZZB 1389-2019 | 单晶硅光伏电池 | 现行 | 2019-11-27 | 2019-12-31 |
| T/ZZB 0648-2018 | 200 mm重掺磷直拉硅单晶抛光片 | 现行 | 2018-10-19 | 2018-11-01 |
| T/ZZB 0497-2018 | 声表面波器件用单晶晶片 | 现行 | 2018-08-31 | 2018-09-30 |
| T/IAWBS 001-2017 | 碳化硅单晶 | 现行 | 2017-12-20 | 2017-12-31 |
| GB/T 47404-2026 | 碳化硅单晶 | 即将实施 | ||
| GB/T 22452-2025 | 硼酸盐非线性光学单晶元件通用规范（外文版EN） | 现行 | 2025-12-09 | |
| JC/T 2545-2019 | 高性能红外探测器用热释电单晶 | 现行 | 2019-12-24 | 2020-07-01 |
| JC/T 2796-2023 | 碳化硅单晶用高纯石墨粉 | 现行 | 2023-12-20 | 2024-07-01 |
| JC/T 2417-2017 | 四硼酸锂压电单晶材 | 现行 | 2017-04-12 | 2017-10-01 |