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GB/T 46514-2025
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锂离子电池正极材料检测方法 晶体结构的测定 X射线衍射法 |
即将实施 |
2026-05-01 |
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GB/T 35316-2017
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蓝宝石晶体缺陷图谱 |
现行 |
2018-07-01 |
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GB/T 37240-2018
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晶体硅光伏组件盖板玻璃透光性能测试评价方法 |
现行 |
2019-07-01 |
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QC/T 1136-2020
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电动汽车用绝缘栅双极晶体管（IGBT）模块环境试验要求及试验方法 |
现行 |
2021-04-01 |
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GB/T 6495.4-1996
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晶体硅光伏器件的I-V实测特性的温度和辐照度修正方法 |
废止 |
1997-01-01 |
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GB/T 45716-2025
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半导体器件 金属氧化物半导体场效应晶体管（MOSFETs）的偏置温度不稳定性试验 |
现行 |
2025-09-01 |
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GB/T 18210-2000
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晶体硅光伏(PV)方阵 I-V特性的现场测量 |
废止 |
2001-05-01 |
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GB/T 40291-2021
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核仪器仪表 辐射探测器用高纯度锗晶体 基本特性的测量方法 |
现行 |
2021-12-01 |
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GB/T 45719-2025
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半导体器件 金属氧化物半导体（MOS） 晶体管的热载流子试验 |
现行 |
2025-09-01 |
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SJ/T 10638-1995
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石英晶体振荡器测试方法 |
现行 |
1995-10-01 |
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SJ/T 11210-1999
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石英晶体元件参数的测量 第4部分：频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL的测量方法及其他导出参数的计算 |
现行 |
1999-12-01 |
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SJ/T 10438-1993
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双极型晶体管直流参数测试仪通用技术条件 |
现行 |
1994-06-01 |
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SJ/T 11848-2022
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半导体分立器件 3DG2484型NPN硅高频小功率晶体管详细规范 |
现行 |
2023-01-01 |
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SJ/T 11851-2022
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半导体分立器件 S3DK5794型NPN硅小功率开关晶体管对管详细规范 |
现行 |
2023-01-01 |
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SJ/T 11850-2022
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半导体分立器件 3DK2219A、3DK2222A、3DK2222AUB型NPN硅小功率开关晶体管详细规范 |
现行 |
2023-01-01 |
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SJ/T 11849-2022
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半导体分立器件3DG3500、3DG3501型NPN硅高频小功率 晶体管详细规范 |
现行 |
2023-01-01 |
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SJ/T 11765-2020
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晶体管低频噪声参数测试方法 |
现行 |
2021-04-01 |
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SJ/T 10708-1996
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石英晶体元件-IECQ规范 第3部分:分规范-鉴定批准 第一篇:空白详细规范 |
现行 |
1996-11-01 |
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