Electronic characteristic measurements—Surface resistance of superconductors at microwave frequencies
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| T/ANS 002-2020 | 磁约束核聚变装置用核聚变堆极向场超导磁体接头制造技术要求 | 现行 | 2020-09-02 | 2020-10-02 |
| T/ANS 001-2020 | 磁约束核聚变装置用大截面环形超导磁体对地绝缘包绕工艺 | 现行 | 2020-09-02 | 2020-10-02 |
| T/CES 067-2021 | 高温超导带材磁化临界电流均匀性磁路法测试方法 | 现行 | 2021-09-28 | 2021-09-30 |
| T/CES 046-2020 | 高温超导带材磁化临界电流均匀性磁路法测试系统规范 | 现行 | 2020-10-26 | 2020-10-29 |
| JJF 1448-2014 | 超导脉冲傅里叶变换核磁共振谱仪校准规范 | 现行 | 2014-02-14 | 2014-05-14 |
| GB/Z 208-2026 | 超导电动磁悬浮系统通用技术规范 | 现行 | 2026-08-27 | |
| GB/T 44003-2024 | 力学性能测量 REBCO涂层导体（镀铜）脱层强度测试方法 | 现行 | 2024-04-25 | 2024-11-01 |
| GB/T 11685-2003 | 半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法 | 现行 | 2003-07-07 | 2004-01-01 |
| GB/T 8446.2-2022 | 电力半导体器件用散热器 第2部分：热阻和流阻测量方法 | 现行 | 2022-03-09 | 2022-10-01 |
| GB/T 24468-2009 | 半导体设备可靠性、可用性和维修性（RAM）的定义和测量规范 | 废止 | 2009-10-15 | 2009-12-01 |
| GB/T 4326-2006 | 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法 | 废止 | 2006-07-18 | 2006-11-01 |
| GB/T 5201-2012 | 带电粒子半导体探测器测量方法 | 现行 | 2012-06-29 | 2012-11-01 |
| GB/T 12113-2023 | 接触电流和保护导体电流的测量方法 | 现行 | 2023-09-07 | 2024-04-01 |
| JB/T 8268-2015 | 静电复印光导体表面缺陷测量方法 | 现行 | 2015-04-30 | 2015-10-01 |
| GB/T 41853-2022 | 半导体器件 微机电器件 晶圆间键合强度测量 | 现行 | 2022-10-12 | 2022-10-12 |
| GB/T 15879.604-2023 | 半导体器件的机械标准化 第6-4部分：表面安装半导体器件封装外形图绘制的一般规则 焊球阵列（BGA）封装的尺寸测量方法 | 现行 | 2023-05-23 | 2023-09-01 |
| GB/T 21548-2021 | 光通信用高速直接调制半导体激光器的测量方法 | 现行 | 2021-04-30 | 2021-08-01 |
| SJ/T 11820-2022 | 半导体分立器件直流参数测试设备技术要求和测量方法 | 现行 | 2022-10-20 | 2023-01-01 |