Integrated circuits—Measurement of electromagnetic immunity—Part 2: Measurement of radiated immunity—TEM cell and wideband TEM cell method
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 42968.5-2025 | 集成电路电磁抗扰度测量 第5部分：工作台法拉第笼法 | 现行 | 2025-12-02 | 相似 |
| GB/T 44937.5-2025 | 集成电路电磁发射测量 第5部分：传导发射测量 工作台法拉第笼法 | 即将实施 | 2026-07-01 | 相似 |
| GB/T 42968.3-2025 | 集成电路电磁抗扰度测量 第3部分：大电流注入（BCI）法 | 现行 | 2025-12-02 | 相似 |
| GB/T 42968.8-2023 | 集成电路电磁抗扰度测量 第8部分：辐射抗扰度测量 IC带状线法 | 现行 | 2024-01-01 | 相似 |
| GB/T 42968.1-2023 | 集成电路电磁抗扰度测量 第1部分：通用条件和定义 | 现行 | 2024-01-01 | 相似 |
| GB/T 42968.2-2024 | 集成电路电磁抗扰度测量 第2部分：辐射抗扰度测量 TEM小室和宽带TEM小室法 | 现行 | 2024-10-26 | 相似 |
| GB/T 44937.4-2024 | 集成电路电磁发射测量 第4部分：传导发射测量 1Ω/150Ω直接耦合法 | 现行 | 2024-12-31 | 相似 |
| GB/T 42968.4-2024 | 集成电路电磁抗扰度测量 第4部分：射频功率直接注入法 | 现行 | 2024-12-31 | 相似 |
| GB/T 42968.9-2025 | 集成电路电磁抗扰度测量 第9部分：辐射抗扰度测量 表面扫描法 | 现行 | 2025-12-02 | 相似 |
| GB/T 44937.1-2025 | 集成电路电磁发射测量 第1部分: 通用条件和定义 | 即将实施 | 2026-07-01 | 相似 |
| GB/T 44937.2-2025 | 集成电路电磁发射测量 第2部分：辐射发射测量 TEM小室和宽带TEM小室法 | 即将实施 | 2026-07-01 | 相似 |
| GB/T 44937.8-2025 | 集成电路电磁发射测量 第8部分：辐射发射测量 IC带状线法 | 即将实施 | 2026-07-01 | 相似 |
| GB/T 44937.3-2025 | 集成电路电磁发射测量 第3部分：辐射发射测量 表面扫描法 | 即将实施 | 2026-07-01 | 相似 |
| GB/T 44937.6-2025 | 集成电路电磁发射测量 第6部分：传导发射测量 磁场探头法 | 即将实施 | 2026-07-01 | 相似 |
| GB/T 44807.1-2024 | 集成电路电磁兼容建模 第1部分：通用建模框架 | 现行 | 2024-10-26 | 相似 |
| GB/T 44807.2-2025 | 集成电路电磁兼容建模 第2部分：集成电路电磁干扰特性仿真模型 传导发射建模（ICEM-CE） | 即将实施 | 2026-04-01 | —— |
| GB/T 44807.3-2025 | 集成电路电磁兼容建模 第3部分：集成电路电磁干扰特性仿真模型 辐射发射建模（ICEM-RE） | 即将实施 | 2026-07-01 | 相似 |
| GB/T 44806.2-2026 | 集成电路 收发器的电磁兼容（EMC）评估 第2部分：局域互联网络（LIN）收发器 | 即将实施 | 2027-03-01 | 相似 |