Surface chemical analysis—Scanning probe microscopy—Standards on the definition and calibration of spatial resolution of electrical scanning probe microscopes (ESPMs) such as SSRM and SCM for 2D-dopant imaging and other purposes
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 15617-2002 | 硅酸盐矿物的电子探针定量分析方法 | 废止 | 2002-11-11 | 2003-06-01 |
| DB53/T 443-2012 | 火灾技术鉴定方法 电子探针分析法 | 废止 | 2012-12-01 | 2013-03-01 |
| SY/T 6027-2012 | 岩石矿物电子探针定量分析方法 | 废止 | 2012-08-23 | 2012-12-01 |
| SY/T 6027-1994 | 含氧矿物电子探针定量分析方法 | 废止 | 1995-01-18 | 1995-07-01 |
| GB/T 17365-1998 | 金属与合金电子探针定量分析样品的制备方法 | 废止 | 1998-05-08 | 1998-12-01 |
| GB/T 15246-2002 | 硫化物矿物的电子探针定量分析方法 | 废止 | 2002-11-11 | 2003-06-01 |
| GB/T 15245-2002 | 稀土氧化物的电子探针定量分析方法 | 废止 | 2002-11-11 | 2003-06-01 |
| GB/T 4930-2008 | 微束分析 电子探针分析 标准样品技术条件导则 | 废止 | 2008-04-11 | 2008-10-01 |
| GB/T 17360-2008 | 钢中低含量Si、Mn的电子探针定量分析方法 | 废止 | 2008-06-16 | 2009-03-01 |
| GB/T 15074-2008 | 电子探针定量分析方法通则 | 废止 | 2008-06-16 | 2009-03-01 |
| JJG 901-1995 | 电子探针分析仪 | 现行 | 1995-10-19 | 1996-03-01 |
| GB/T 33523.604-2022 | 产品几何技术规范（GPS） 表面结构 区域法 第604部分：非接触（相干扫描干涉）式仪器的标称特性 | 现行 | 2022-12-30 | 2023-04-01 |
| NB/SH/T 0832-2010 | 润滑油热表面氧化的测定 压力差示扫描量热法 | 现行 | 2010-05-01 | 2010-10-01 |
| SN/T 3009-2011 | 金属表面海水腐蚀扫描电镜鉴定方法 | 废止 | 2011-09-09 | 2012-04-01 |
| GB/T 42968.9-2025 | 集成电路 电磁抗扰度测量 第9部分：辐射抗扰度测量 表面扫描法 | 现行 | 2025-12-02 | 2025-12-02 |
| GB/T 44937.3-2025 | 集成电路 电磁发射测量 第3部分：辐射发射测量 表面扫描法 | 即将实施 | 2025-12-31 | 2026-07-01 |
| GB/T 31227-2014 | 原子力显微镜测量溅射薄膜表面粗糙度的方法 | 现行 | 2014-09-30 | 2015-04-15 |
| GB/T 32189-2015 | 氮化镓单晶衬底表面粗糙度的原子力显微镜检验法 | 现行 | 2015-12-10 | 2016-11-01 |