Surface chemical analysis—Scanning probe microscopy—Standards on the definition and calibration of spatial resolution of electrical scanning probe microscopes (ESPMs) such as SSRM and SCM for 2D-dopant imaging and other purposes
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| JB/T 8501-1996 | 锅炉吹灰器和测温探针 | 现行 | 1996-11-07 | 1997-07-01 |
| JB/T 12074-2014 | 复合金属材料成分的测定 电子探针法 | 现行 | 2014-07-14 | 2014-11-01 |
| YS/T 602-2017 | 区熔锗锭电阻率测试方法 两探针法 | 现行 | 2017-07-07 | 2018-01-01 |
| YY/T 0172-2014 | 子宫探针 | 现行 | 2014-06-17 | 2015-07-01 |
| YY/T 1014-2021 | 牙科学 牙探针 | 现行 | 2021-03-09 | 2022-04-01 |
| SJ/T 10481-1994 | 硅外延层电阻率的面接触三探针方法 | 现行 | 1994-04-11 | 1994-10-01 |
| SJ/T 10314-1992 | 直流四探针电阻率测试通用技术条件 | 现行 | 1992-06-15 | 1992-12-01 |
| SJ/T 10315-1992 | 四探针探头通用技术条件 | 现行 | 1992-06-15 | 1992-12-01 |
| DB42/T 1864.2-2022 | 家禽疫病诊断技术规程 第2部分：禽大肠杆菌致病群双重探针法检测 | 现行 | 2022-05-26 | 2022-07-26 |
| GB/T 14141-2009 | 硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定 直排四探针法 | 现行 | 2009-10-30 | 2010-06-01 |
| DB51/T 3207-2024 | 集成电路测试用微波探针应用规范 | 现行 | 2024-12-03 | 2024-12-29 |
| GB/T 26074-2010 | 锗单晶电阻率直流四探针测量方法 | 现行 | 2011-01-10 | 2011-10-01 |
| GB/T 28630.1-2012 | 白斑综合征(WSD)诊断规程 第1部分：核酸探针斑点杂交检测法 | 现行 | 2012-07-31 | 2012-11-01 |
| DB32/T 4027-2021 | 石墨烯粉体电导率测定 动态四探针法 | 现行 | 2021-05-14 | 2021-06-14 |
| GB/T 39978-2021 | 纳米技术 碳纳米管粉体电阻率 四探针法 | 现行 | 2021-05-21 | 2021-12-01 |
| T/ZZB 3888-2024 | 半导体芯片测试用探针头 | 现行 | 2024-12-06 | 2024-12-06 |
| T/CSBM 0052-2024 | 基于荧光探针监测生物可降解镁基金属降解的方法 | 现行 | 2024-11-25 | 2025-04-01 |
| T/BEA 43002-2023 | 朗缪尔单探针等离子体测试仪校准规范 | 现行 | 2023-02-20 | 2023-04-19 |