Semiconductor devices--Discrete devices and integrated circuits--Part 1:General
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 42838-2023 | 半导体集成电路 霍尔电路测试方法 | 现行 | 2023-12-01 | 找相似 |
| GB/T 14119-1993 | 半导体集成电路双极熔丝式可编程只读存储器空白详细规范(可供认证用) | 现行 | 1993-08-01 | 找相似 |
| GB/T 14113-1993 | 半导体集成电路封装术语 | 现行 | 1993-08-01 | 找相似 |
| GB/T 7509-1987 | 半导体集成电路微处理器空白详细规范 (可供认证用) | 现行 | 1987-11-01 | 找相似 |
| GB/T 6648-1986 | 半导体集成电路静态读/ 写存储器空白详细规范(可供认证用) | 现行 | 1987-08-01 | 找相似 |
| GB/T 42848-2023 | 半导体集成电路 直接数字频率合成器测试方法 | 现行 | 2023-12-01 | 找相似 |
| GB/T 14031-1992 | 半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理 | 现行 | 1993-08-01 | 找相似 |
| GB/T 43040-2023 | 半导体集成电路 AC/DC变换器测试方法 | 现行 | 2024-04-01 | 找相似 |
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| GB/T 15878-2015 | 半导体集成电路 小外形封装引线框架规范 | 现行 | 2016-01-01 | 找相似 |
| GB/T 3436-1996 | 半导体集成电路 运算放大器系列和品种 | 现行 | 1997-01-01 | 找相似 |
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| GB/T 14030-1992 | 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 | 现行 | 1993-08-01 | 找相似 |
| GB/T 42836-2023 | 微波半导体集成电路 混频器 | 现行 | 2023-12-01 | 找相似 |
| GB/T 42970-2023 | 半导体集成电路 视频编解码电路测试方法 | 现行 | 2024-01-01 | 找相似 |
| GB/T 9425-1988 | 半导体集成电路运算放大器空白详细规范 (可供认证用) | 现行 | 1989-02-01 | 找相似 |