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半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理

General principles of measuring methods of analogue phase-loop for semiconductor integrated circuits

GB/T 14031-1992 推荐性国家标准

现行

标准状态

发布日期

1992-12-17

实施日期

1993-08-01

基础信息

标准号

GB/T 14031-1992

批准发布部门

工业和信息化部（电子）

发布部门

国家技术监督局

技术归口

工业和信息化部（电子）

标准分类

中国标准分类号

L55

国际标准分类号

31.200

标准层级

国家标准

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