LED灯具可靠性试验方法

Reliability test methods for LED luminaries

GB/T 33721-2017推荐性国家标准

现行

上传时间:2026-02-25
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GB/T 33721-2017 相似标准 第12页

更新时间 2026-10-25
标准号标准名称状态发布日期实施日期
T/CSAE 190.4-2021汽车用轮毂电动轮总成可靠性试验方法现行2021-07-232021-07-23
T/CRSS 0006-2021精密减速器可靠性试验方法现行2021-09-162021-09-16
T/CSAE 236-2021质子交换膜燃料电池发动机 台架可靠性试验方法现行2021-12-152021-12-15
T/CAS 344-2019家用和类似用途制冷器具用端子连接器可靠性要求和试验方法现行2019-05-052019-05-05
T/CIE 144-2022半导体器件可靠性强化试验方法现行2022-12-312023-01-31
T/CEEIA 556-2021机器人控制部件可靠性强化试验方法现行2021-12-202021-12-20
T/CEEIA 817-2024直流系统用蓄电池组可靠性试验方法现行2024-09-292024-09-29
T/SLDA 08-2024Mini/Micro LED直显模块可靠性试验方法现行2024-12-312024-12-31
JB/T 15400-2026混合动力用发动机可靠性试验方法即将实施2026-02-132026-09-01
YD/T 2152-2026光纤活动连接器可靠性要求及试验方法现行2026-03-112026-06-01
SJ/T 12068-2025半导体器件 分立器件 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管可靠性试验方法现行2025-12-192026-07-01
SJ/T 12070-2025半导体器件 分立器件 碳化硅二极管可靠性试验方法现行2025-12-192026-07-01
GB/T 48168-2026半导体器件 基于感性负载开关应力的氮化镓(GaN)晶体管可靠性试验方法即将实施2026-08-282027-03-01
GB/T 48164.2-2026半导体器件 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(SiC MOSFET)可靠性试验方法 第2部分:体二极管工作引起双极退化的试验方法即将实施2026-08-282027-03-01
GB/T 48164.1-2026半导体器件 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(SiC MOSFET)可靠性试验方法 第1部分:偏置温度不稳定性试验方法即将实施2026-08-282027-03-01
GB/T 29307-2022电动汽车用驱动电机系统可靠性试验方法(外文版EN)现行2022-12-30
GB/T 15510-2008控制用电磁继电器可靠性试验通则现行2008-06-182009-03-01
GB/T 36362-2018LED应用产品可靠性试验的点估计和区间估计(指数分布)现行2018-06-072019-01-01