Test method for calibrating the z-magnification of an atomic force microscope at subnanometer displacement levels using si (111) monatomic steps
现行
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 27760-2011 | 利用Si（111）晶面原子台阶对原子力显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法 | 现行 | 2011-12-30 | 2012-05-01 |
| GB/T 39299-2020 | 液晶面板制造稀释废液回收再利用方法 | 现行 | 2020-11-19 | 2021-10-01 |
| GB/T 31227-2014 | 原子力显微镜测量溅射薄膜表面粗糙度的方法 | 现行 | 2014-09-30 | 2015-04-15 |
| GB/T 28872-2012 | 活细胞样品纳米结构的磁驱动轻敲模式原子力显微镜检测方法 | 现行 | 2012-11-05 | 2013-02-15 |
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