Testing method for crystallographic perfection of silicon by preferential etch techniques
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/Z 162-2025 | 机械电气安全 安全完整性要求的分配 基本原理 | 现行 | 2025-12-03 | |
| GB/T 45966.1-2025 | 石油天然气工业 井完整性 第 1 部分：生命周期管理 | 现行 | 2025-08-01 | 2026-02-01 |
| GB/Z 44426.7-2026 | 躺卧保护组织完整性的辅助器具 第7部分：泡沫的属性、特征和性能 | 现行 | 2026-01-28 | |
| SJ/Z 11360-2006 | 集成电路IP核信号完整性规范 | 现行 | 2006-09-26 | 2006-12-01 |
| YC/T 12.1-2006 | 烟草机械 产品工艺文件 第1部分：完整性 | 现行 | 2006-02-23 | 2006-03-01 |
| YC/T 11.5-2006 | 烟草机械 产品图样及设计文件 第5部分：完整性 | 现行 | 2006-02-23 | 2006-03-01 |
| GB/T 21109.3-2026 | 过程工业领域安全仪表系统的功能安全 第3部分：确定要求的安全完整性等级的指南 | 即将实施 | 2026-01-28 | 2026-08-01 |
| T/COSHA 014-2022 | 煤气化装置设备完整性管理要求 | 现行 | 2022-08-19 | 2022-08-19 |
| T/CASME 1478-2024 | 智能工厂 数据完整性技术要求 | 现行 | 2024-04-28 | 2024-05-01 |
| T/CPI 68001-2024 | 炼油与化工企业设备完整性管理体系要求 | 现行 | 2024-04-22 | 2024-07-01 |
| T/CPI 65001-2024 | 炼化企业安全仪表系统 安全完整性等级（SIL）评估技术规范 | 现行 | 2024-04-22 | 2024-07-01 |
| T/TAF 331.3-2026 | 信息通信产品运行安全完整性 第3部分：评估指南 | 2026-08-26 | 2026-08-26 | |
| GB/T 25188-2010 | 硅晶片表面超薄氧化硅层厚度的测量 X射线光电子能谱法 | 现行 | 2010-09-26 | 2011-08-01 |
| GB/T 37213-2018 | 硅晶锭尺寸的测定 激光法 | 现行 | 2018-12-28 | 2019-11-01 |
| GB/T 26066-2010 | 硅晶片上浅腐蚀坑检测的测试方法 | 现行 | 2011-01-10 | 2011-10-01 |
| T/CASAS 032-2023 | 碳化硅晶片表面金属元素含量的测定电感耦合等离子体质谱法 | 现行 | 2023-06-19 | 2023-06-19 |
| T/CASAS 013-2021 | 碳化硅晶片位错密度检测方法 KOH腐蚀结合图像识别法 | 现行 | 2021-11-01 | 2021-12-01 |
| HG/T 6149-2023 | 加氢催化剂及其载体中二氧化硅晶相含量的测定 X射线衍射法 | 现行 | 2023-05-22 | 2023-11-01 |