Semiconductor devices--Integrated circuits--Part 2-10:Digital integrated circuits--Blank detail specification for integrated circuit dynamicread/write memories
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| YS/T 936-2013 | 集成电路器件用镍钒合金靶材 | 现行 | 2013-10-17 | 2014-03-01 |
| SJ/T 10401-1993 | 半导体集成音响奄路马达稳速电路测试方法的基本原理 | 现行 | 1993-09-28 | 1994-01-01 |
| GB/T 6814-1986 | 半导体集成非线性电路系列和品种 模拟开关的品种 | 废止 | 1986-08-27 | 1987-08-01 |
| GB/T 6813-1986 | 半导体集成非线性电路系列和品种 时基电路的品种 | 废止 | 1986-08-27 | 1987-08-01 |
| GB/T 6815-1986 | 半导体集成非线性电路系列和品种 锁相环的品种 | 废止 | 1986-08-27 | 1987-08-01 |
| GB/T 6812-1986 | 半导体集成非线性电路系列和品种 模拟乘-除法器的品种 | 废止 | 1986-08-27 | 1987-08-01 |
| GB/T 3435-1987 | 半导体集成CMOS电路系列和品种 4000系列的品种 | 废止 | 1987-01-21 | 1987-08-01 |
| GB/T 9423-1988 | 半导体集成TTL电路系列和品种 54/74 ALS 系列的品种 | 废止 | 1988-06-23 | 1989-02-01 |
| SJ/T 10402-1993 | 半导体音响电路自动选曲电路测试方法的基本原理 | 现行 | 1993-09-28 | 1994-01-01 |
| SJ/T 10400-1993 | 半导体音响电路图示均衡电路测试方法的基本原理 | 现行 | 1993-09-28 | 1994-01-01 |
| T/GSEE 0011-2023 | 高压交流电路半导体开关设备技术规范 | 现行 | 2023-12-05 | 2023-12-05 |
| GB/T 12565-1990 | 半导体器件 光电子器件分规范 (可供认证用) | 现行 | 1990-12-12 | 1991-10-01 |
| GB/T 36359-2018 | 半导体光电子器件 小功率发光二极管空白详细规范 | 现行 | 2018-06-07 | 2019-01-01 |
| GB/T 43366-2023 | 宇航用半导体分立器件通用规范 | 现行 | 2023-11-27 | 2024-03-01 |
| GB/T 6571-1995 | 半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管 | 现行 | 1995-07-24 | 1996-04-01 |
| GB/T 4586-1994 | 半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管 | 现行 | 1994-12-30 | 1995-08-01 |
| GB/T 18904.3-2002 | 半导体器件 第12-3部分:光电子器件 显示用发光二极管空白详细规范 | 现行 | 1990-12-06 | 2003-05-01 |
| GB/T 7581-1987 | 半导体分立器件外形尺寸 | 现行 | 1987-03-27 | 1987-11-01 |