| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| T/GAC 11-2020 | 钻石花式切工技术规范 梨形 | 现行 | 2020-06-09 | 2020-06-16 |
| T/GAC 10-2020 | 钻石花式切工技术规范 橄榄形 | 现行 | 2020-06-09 | 2020-06-16 |
| T/CMTBA 2004-2020 | 培育钻石 | 现行 | 2020-12-01 | 2021-01-01 |
| T/SZS 4054-2022 | 18K金钻石饰品 | 现行 | 2022-12-08 | 2022-12-09 |
| T/SZS 4052-2022 | 心箭效应钻石 | 现行 | 2022-12-08 | 2022-12-09 |
| GB/T 6624-2009 | 硅抛光片表面质量目测检验方法 | 现行 | 2009-10-30 | 2010-06-01 |
| HG/T 4079-2009 | 金属抛光表面质量检测及评判规则 | 现行 | 2009-02-05 | 2009-07-01 |
| GB/T 43313-2023 | 碳化硅抛光片表面质量和微管密度的测试 共焦点微分干涉法 | 现行 | 2023-11-27 | 2024-06-01 |
| T/IAWBS 012-2019 | 碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度测试方法 ——共焦点微分干涉光学法 | 现行 | 2019-12-27 | 2019-12-31 |
| T/IAWBS 010-2019 | 碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度检测方法-激光散射检测法 | 现行 | 2019-12-27 | 2019-12-31 |
| SJ/T 11504-2015 | 碳化硅单晶抛光片表面质量的测试方法 | 现行 | 2015-04-30 | 2015-10-01 |
| NY/T 2460-2013 | 大米抛光机 质量评价技术规范 | 废止 | 2013-09-10 | 2014-01-01 |
| T/IAWBS 010-2019 | 碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度检测方法-激光散射检测法 | 现行 | 2019-12-27 | 2019-12-31 |
| T/IAWBS 012-2019 | 碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度测试方法 ——共焦点微分干涉光学法 | 现行 | 2019-12-27 | 2019-12-31 |
| GB/T 36128-2018 | 珠宝贵金属产品质量测量允差的规定 | 现行 | 2018-05-14 | 2018-12-01 |
| QB/T 1690-2021 | 贵金属饰品质量测量允差的规定 | 现行 | 2021-12-02 | 2022-04-01 |
| QB/T 1690-2004 | 贵金属饰品质量测量允差的规定 | 废止 | 2004-08-15 | 2005-01-01 |
| DB44/T 530-2008 | 南珠抛光技术规范 | 废止 | 2008-07-11 | 2008-10-01 |