Space environment—Method of single event upset rates prediction of semiconductor devices for space applications
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 44181-2024 | 空间环境宇航用半导体器件在轨单粒子翻转率预计方法 | 现行 | 2024-07-24 | 相似 |
| GB/T 43967-2024 | 空间环境宇航用半导体器件单粒子效应脉冲激光试验方法 | 现行 | 2024-04-25 | 相似 |
| GB/T 43366-2023 | 宇航用半导体分立器件通用规范 | 现行 | 2024-03-01 | 相似 |
| GB/T 41040-2021 | 宇航用商业现货（COTS）半导体器件 质量保证要求 | 现行 | 2022-07-01 | 相似 |
| GB/T 46174-2025 | 空间环境宇航用电子元器件空间环境效应模拟试验通用要求 | 现行 | 2025-10-05 | 相似 |
| GB/T 47857-2026 | 空间环境宇航用电子元器件单粒子烧毁试验方法 | 即将实施 | 2026-11-01 | 相似 |
| GB/T 43226-2023 | 宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法 | 现行 | 2024-01-01 | 相似 |
| GB/T 38345-2019 | 宇航用半导体集成电路通用设计要求 | 现行 | 2020-07-01 | 相似 |
| GB/T 13151-2005 | 半导体器件 分立器件 第6部分:晶闸管 第3篇 电流大于 100A、环境和管壳额定的反向阻断三极晶闸管空白详细规范 | 现行 | 2005-10-01 | 相似 |
| GB/T 13150-2005 | 半导体器件 分立器件 电流大于 100A、环境和管壳额定的双向三极晶闸管空白详细规范 | 现行 | 2005-10-01 | 相似 |
| GB/T 6352-1998 | 半导体器件 分立器件 第6部分:闸流晶体管 第一篇 100A以下环境或管壳额定反向阻断三极闸流晶体管空白详细规范 | 现行 | 1999-06-01 | 相似 |
| GB/T 6217-1998 | 半导体器件 分立器件 第7部分:双极型晶体管 第一篇 高低频放大环境额定的双极型晶体管空白详细规范 | 现行 | 1999-06-01 | 相似 |
| GB/T 6590-1998 | 半导体器件 分立器件 第6部分:闸流晶体管 第二篇 100A以下环境或管壳额定的双向三极闸流晶体管空白详细规范 | 现行 | 1999-06-01 | 相似 |
| GB/T 6351-1998 | 半导体器件 分立器件 第2部分:整流二极管 第一篇 100A以下环境或管壳额定整流二极管(包括雪崩整流二极管)空白详细规范 | 现行 | 1999-06-01 | 相似 |
| GB/T 46788-2025 | 半导体器件表面镀涂锡和锡合金上的锡须的环境接收要求 | 即将实施 | 2026-07-01 | 相似 |
| GB/T 42709.36-2026 | 半导体器件 微电子机械器件 第 36 部分：MEMS 压电薄膜的环境及介电耐压试验方法 | 即将实施 | 2027-02-01 | 相似 |
| GB/T 46560-2025 | 宇航用元器件过程控制体系（PCS）的建立和实施要求 | 即将实施 | 2026-04-01 | 相似 |
| GB/T 41032-2021 | 宇航用元器件结构分析通用指南 | 现行 | 2022-07-01 | 相似 |