半导体发光数码管空白详细规范

Blank detail specification for LED numeric displays

GB/T 15529-1995推荐性国家标准

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GB/T 15529-1995 相似标准 第13页

更新时间 2026-10-25
标准号标准名称状态发布日期实施日期
JB/T 7062-1993半导体变流器联结的标志代号现行1993-10-081994-01-01
JB/T 7622-1994电力半导体器件工艺用有机硅漆现行1994-12-091995-06-01
JB/T 6307.5-1994电力半导体模块测试方法 双极型晶体管单相桥和三相桥现行1994-12-091995-06-01
JB/T 8661-1997电力半导体模块结构件废止1997-12-171998-02-01
JB/T 6307.2-1992电力半导体模块测试方法整流管单相桥废止1992-06-261993-01-01
JB/T 8757-1998电力半导体器件用热管散热器废止1998-05-261998-12-01
JB/T 11623-2013平面厚膜半导体气敏元件现行2013-12-312014-07-01
JB/T 5537-2006半导体压力传感器现行2006-12-312007-07-01
GB/T 14030-1992半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理现行1992-12-171993-08-01
JB/T 9684-2000电力半导体器件用散热器选用导则废止2000-04-242000-10-01
JB/T 9687.2-1999电力半导体器件用钨圆片现行1999-08-062000-01-01
GB/T 42836-2023微波半导体集成电路 混频器现行2023-08-062023-12-01
GB/T 42970-2023半导体集成电路 视频编解码电路测试方法现行2023-09-072024-01-01
GB/T 42709.7-2023半导体器件 微电子机械器件 第7部分:用于射频控制和选择的MEMS体声波滤波器和双工器现行2023-05-232023-12-01
GB/T 35010.1-2018半导体芯片产品 第1部分:采购和使用要求现行2018-03-152018-08-01
GB/T 4937.31-2023半导体器件 机械和气候试验方法 第31部分:塑封器件的易燃性(内部引起的)现行2023-05-232023-12-01
GB/T 4937.23-2023半导体器件 机械和气候试验方法 第23部分:高温工作寿命现行2023-05-232023-12-01
GB/T 35010.8-2018半导体芯片产品 第8部分:数据交换的EXPRESS格式现行2018-03-152018-08-01