| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 5613-2026 | 铸钢牌号表示方法 | 即将实施 | 2027-02-01 | 相似 |
| GB/T 340-1976 | 有色金属及合金产品牌号表示方法 | 废止 | 1977-07-01 | 相似 |
| GB/T 5612-1985 | 铸铁牌号表示方法 | 废止 | 1986-08-01 | 相似 |
| GB/T 7738-1987 | 铁合金产品牌号表示方法 | 废止 | 1988-03-01 | 相似 |
| GB/T 8063-1994 | 铸造有色金属及其合金牌号表示方法 | 废止 | 1995-05-01 | 相似 |
| GB/T 5613-1995 | 铸钢牌号表示方法 | 废止 | 1996-07-01 | 相似 |
| GB/T 16474-1996 | 变形铝及铝合金牌号表示方法 | 废止 | 1997-01-01 | 相似 |
| GB/T 221-2000 | 钢铁产品牌号表示方法 | 废止 | 2000-11-01 | 相似 |
| GB/T 5612-2008 | 铸铁牌号表示方法 | 废止 | 2008-08-01 | 相似 |
| GB/T 46227-2025 | 半导体单晶材料透过率测试方法 | 即将实施 | 2026-03-01 | 相似 |
| GB/T 37131-2018 | 纳米技术 半导体纳米粉体材料紫外-可见漫反射光谱的测试方法 | 现行 | 2018-12-28 | 相似 |
| GB/T 1550-2018 | 非本征半导体材料导电类型测试方法 | 现行 | 2019-11-01 | 相似 |
| GB/T 37131-2018 | 纳米技术 半导体纳米粉体材料紫外-可见漫反射光谱的测试方法（外文版EN） | 现行 | 相似 | |
| GB/T 4298-1984 | 半导体硅材料中杂质元素的活化分析方法 | 废止 | 1985-03-01 | 相似 |
| GB/T 1550-1997 | 非本征半导体材料导电类型测试方法 | 废止 | 1997-12-01 | 相似 |
| GB/T 4937.39-2025 | 半导体器件 机械和气候试验方法 第39部分：半导体器件用有机材料的潮气扩散率和水溶解度测量 | 即将实施 | 2026-07-01 | 相似 |
| GB/T 42709.2-2026 | 半导体器件 微电子机械器件 第2部分：薄膜材料拉伸试验方法 | 即将实施 | 2026-11-01 | 相似 |
| GB/T 42709.21-2026 | 半导体器件 微电子机械器件 第21部分：MEMS薄膜材料泊松比测试方法 | 即将实施 | 2027-02-01 | 相似 |