| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 37617-2019 | 纳滤膜表面Zeta电位测试方法 流动电位法 | 现行 | 2019-06-04 | 2020-05-01 |
| GB/T 32095.4-2015 | 家用食品金属烹饪器具不粘表面性能及测试规范 第4部分：食物模拟测试规范及评价方法 | 现行 | 2015-10-09 | 2016-05-01 |
| GB/T 19921-2018 | 硅抛光片表面颗粒测试方法 | 现行 | 2018-12-28 | 2019-07-01 |
| GB/T 47232-2026 | 仿生结构表面摩擦系数测试方法 | 即将实施 | 2026-02-27 | 2026-09-01 |
| T/CPIA 0064-2024 | 光伏封装胶膜表面粗糙度测试方法 | 现行 | 2024-03-10 | 2024-03-15 |
| T/JDZCA 0004-2023 | 陶瓷艺术品特征提取方法表面形貌结构测试方法 | 现行 | 2023-10-18 | 2023-10-19 |
| T/SMA 0047-2024 | 轨道交通高压屏蔽线缆及连接器表面转移阻抗测试方法 | 现行 | 2024-08-29 | 2024-09-15 |
| T/GVS 008-2022 | 轴流风机叶轮表面抗老化PVD涂层测试方法 | 现行 | 2022-08-26 | 2022-08-26 |
| T/FSI 049-2020 | 气相二氧化硅表面硅羟基含量测试方法 | 现行 | 2020-04-30 | 2020-05-30 |
| T/IAWBS 012-2019 | 碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度测试方法 ——共焦点微分干涉光学法 | 现行 | 2019-12-27 | 2019-12-31 |
| T/GDPIA 1-2019 | 塑料制品表面排斥细菌粘附能力的测试方法 | 现行 | 2019-09-19 | 2019-09-29 |
| T/IAWBS 002-2017 | 碳化硅外延片表面缺陷测试方法 | 现行 | 2017-12-20 | 2017-12-31 |
| GB/T 43264-2023 | 永磁体表面磁场分布测试方法（外文版EN） | 现行 | 2024-09-02 | |
| SJ/T 11503-2015 | 碳化硅单晶抛光片表面粗糙度的测试方法 | 现行 | 2015-04-30 | 2015-10-01 |
| SJ/T 11504-2015 | 碳化硅单晶抛光片表面质量的测试方法 | 现行 | 2015-04-30 | 2015-10-01 |
| HG/T 6204-2023 | 光学聚酯薄膜 表面低聚物的测试方法 | 现行 | 2023-12-20 | 2024-07-01 |
| GB/T 20170.2-2026 | 稀土金属及其化合物物理性能测试方法 第2部分：稀土化合物比表面积的测定 氮气吸附法 | 即将实施 | 2026-05-25 | 2026-12-01 |
| YS/T 679-2008 | 非本征半导体中少数载流子扩散长度的稳态表面光电压测试方法 | 废止 | 2008-03-12 | 2008-09-01 |