| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 34481-2017 | 低位错密度锗单晶片腐蚀坑密度(EPD)的测量方法 | 现行 | 2017-10-14 | 2018-07-01 |
| GB/T 41325-2022 | 集成电路用低密度晶体原生凹坑硅单晶抛光片 | 现行 | 2022-03-09 | 2022-10-01 |
| GB/T 34210-2017 | 蓝宝石单晶晶向测定方法 | 现行 | 2017-09-07 | 2018-06-01 |
| GB/T 29508-2013 | 300mm 硅单晶切割片和磨削片 | 现行 | 2013-05-09 | 2014-02-01 |
| GB/T 47082-2026 | 碳化硅单晶抛光片堆垛层错测试方法 | 即将实施 | 2026-01-28 | 2026-08-01 |
| GB/T 39123-2020 | X射线和γ射线探测器用碲锌镉单晶材料规范 | 现行 | 2020-10-11 | 2021-09-01 |
| GB/T 30656-2023 | 碳化硅单晶抛光片 | 现行 | 2023-03-17 | 2023-10-01 |
| GB/T 30839.46-2015 | 工业电热装置能耗分等 第46部分：单晶炉 | 现行 | 2015-09-11 | 2016-04-01 |
| GB/T 35305-2026 | 太阳能电池用砷化镓单晶及抛光片 | 即将实施 | 2026-01-28 | 2026-08-01 |
| GB/T 29506-2013 | 300mm 硅单晶抛光片 | 现行 | 2013-05-09 | 2014-02-01 |
| GB/T 46611-2025 | 电光调制器用铌酸锂单晶薄膜 | 即将实施 | 2025-10-31 | 2026-05-01 |
| GB/T 4326-2025 | 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法 | 即将实施 | 2025-10-31 | 2026-05-01 |
| GB/T 30858-2025 | 蓝宝石单晶衬底抛光片 | 即将实施 | 2025-10-31 | 2026-05-01 |
| T/SCSJXH 010-2025 | 单晶硅TOPCon太阳电池 | 现行 | 2025-04-28 | 2025-04-28 |
| T/ZZB 3620-2024 | 环形线单晶硅棒截断机 | 现行 | 2024-02-15 | 2024-03-15 |
| T/SCSJXH 001-2024 | 单晶硅PERC太阳电池 | 现行 | 2024-04-01 | 2024-04-01 |
| T/ZZB 2283-2021 | 半导体级碳化硅单晶用超高纯石墨粉 | 现行 | 2021-08-26 | 2021-09-26 |
| T/ZSA 231-2024 | 氧化镓单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法 | 现行 | 2024-05-15 | 2024-05-16 |