Non-magnetic coatings on magnetic substrates—Measurement of coating thickness—Magnetic method
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/Z 43592.2-2025 | 纳米技术 磁性纳米材料 第2部分：核酸提取用磁珠的特性和测量规范 | 现行 | 2025-12-03 | |
| T/CPSS 1009-2020 | 磁性材料高励磁损耗测量方法 | 现行 | 2020-08-25 | 2020-09-01 |
| JJF 1239-2010 | 稀土永磁体磁性温度系数测量技术规范 | 现行 | 2010-01-05 | 2010-04-05 |
| GB/T 25188-2010 | 硅晶片表面超薄氧化硅层厚度的测量 X射线光电子能谱法 | 现行 | 2010-09-26 | 2011-08-01 |
| GB/T 11374-2012 | 热喷涂涂层厚度的无损测量方法 | 现行 | 2012-09-03 | 2013-03-01 |
| GB/T 40066-2021 | 纳米技术 氧化石墨烯厚度测量 原子力显微镜法 | 现行 | 2021-05-21 | 2021-12-01 |
| GB/T 8758-2006 | 砷化镓外延层厚度红外干涉测量方法 | 现行 | 2006-07-18 | 2006-11-01 |
| GB/T 25451-2010 | 重水堆核电厂燃料元件涂层厚度测量β射线背散射法 | 现行 | 2010-11-10 | 2011-05-01 |
| GB/T 2951.11-2008 | 电缆和光缆绝缘和护套材料通用试验方法 第11部分：通用试验方法 厚度和外形尺寸测量 机械性能试验 | 现行 | 2008-06-26 | 2009-04-01 |
| GB/T 8014.3-2005 | 铝及铝合金阳极氧化 氧化膜厚度的测量方法 第3部分:分光束显微镜法 | 现行 | 2005-07-04 | 2005-12-01 |
| GB/T 8014.2-2005 | 铝及铝合金阳极氧化 氧化膜厚度的测量方法 第2部分:质量损失法 | 现行 | 2005-07-04 | 2005-12-01 |
| GB/T 8014.1-2005 | 铝及铝合金阳极氧化 氧化膜厚度的测量方法 第1部分:测量原则 | 现行 | 2005-07-04 | 2005-12-01 |
| GB/T 6672-2001 | 塑料薄膜和薄片厚度测定 机械测量法 | 现行 | 2001-10-24 | 2002-05-01 |
| GB/T 36053-2018 | X射线反射法测量薄膜的厚度、密度和界面宽度 仪器要求、准直和定位、数据采集、数据分析和报告 | 现行 | 2018-03-15 | 2019-02-01 |
| GB/T 23285-2009 | 缩微摄影技术 开窗卡增厚区厚度的测量方法 | 现行 | 2009-03-13 | 2009-09-01 |
| GB/T 7308.2-2021 | 滑动轴承 有法兰或无法兰薄壁轴瓦 第2部分:轴瓦壁厚和法兰厚度测量 | 现行 | 2021-03-09 | 2021-10-01 |
| GB/T 43682-2024 | 纳米技术 亚纳米厚度石墨烯薄膜载流子迁移率及方块电阻测量方法 | 现行 | 2024-03-15 | 2024-07-01 |
| GB/T 31225-2014 | 椭圆偏振仪测量硅表面上二氧化硅薄层厚度的方法 | 现行 | 2014-09-30 | 2015-04-15 |