| GB/T 13397-2024 | 合金内氧化法银金属氧化物电触头技术规范 | 现行 | 2024-10-26 | 2025-05-01 |
| GB/T 12690.8-2021 | 稀土金属及其氧化物中非稀土杂质化学分析方法 第8部分：钠量的测定 | 现行 | 2021-10-11 | 2022-05-01 |
| GB/T 18115.9-2006 | 稀土金属及其氧化物中稀土杂质化学分析方法 镝中镧、铈、镨、钕、钐、铕、钆、铽、钬、铒、铥、镱、镥和钇量的测定 | 现行 | 2006-04-13 | 2006-10-01 |
| GB/T 27746-2011 | 低压电器用金属氧化物压敏电阻器(MOV)技术规范 | 废止 | 2011-12-30 | 2012-05-01 |
| GB/T 18115.7-2006 | 稀土金属及其氧化物中稀土杂质化学分析方法 钆中镧、铈、镨、钕、钐、铕、铽、镝、钬、铒、铥、镱、镥和钇量的测定 | 现行 | 2006-04-13 | 2006-10-01 |
| GB/T 18115.15-2010 | 稀土金属及其氧化物中稀土杂质化学分析方法 第15部分：镥中镧、铈、镨、钕、钐、铕、钆、铽、镝、钬、铒、铥、镱和钇量的测定 | 现行 | 2011-01-14 | 2011-11-01 |
| GB/T 27746-2025 | 低压电器用金属氧化物压敏电阻器（MOV）技术规范 | 即将实施 | 2025-10-31 | 2026-05-01 |
| GB/T 18115.12-2006 | 稀土金属及其氧化物中稀土杂质化学分析方法 钇中镧、铈、镨、钕、钐、铕、钆、铽、镝、钬、铒、铥、镱和镥量的测定 | 现行 | 2006-04-13 | 2006-10-01 |
| T/ACREI CREIS54002-2018 | 稀土产品成分分析质量控制技术规范—第2部分·单一稀土金属及其氧化物成分分析 | 现行 | 2017-04-24 | 2017-04-24 |
| T/CASAS 016-2022 | 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管 （SiC MOSFET）结壳热阻瞬态双界面测试方法 | 现行 | 2022-07-18 | 2022-07-18 |
| T/CASAS 015-2022 | 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管 （SiC MOSFET）功率循环试验方法 | 现行 | 2022-07-18 | 2022-07-18 |
| T/CASAS 006-2020 | 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管通用技术规范 | 现行 | 2020-12-28 | 2021-01-01 |
| GB/T 12690.2-2015 | 稀土金属及其氧化物中非稀土杂质化学分析方法 第2部分：稀土氧化物中灼减量的测定 重量法（外文版EN） | 现行 | 2020-12-14 | |
| GB/T 12690.5-2017 | 稀土金属及其氧化物中非稀土杂质化学分析方法 第5部分：钴、锰、铅、镍、铜、锌、铝、铬、镁、镉、钒、铁量的测定（外文版EN） | 现行 | 2018-05-14 | |
| GB/T 12690.12-2024 | 稀土金属及其氧化物中非稀土杂质 化学分析方法 第12部分：钍、铀量的测定 电感耦合等离子体质谱法（外文版EN） | 现行 | 2024-12-31 | |
| GB/T 12690.3-2015 | 稀土金属及其氧化物中非稀土杂质化学分析方法 第3部分：稀土氧化物中水分量的测定 重量法（外文版EN） | 现行 | 2023-11-02 | |
| GB/T 12690.13-2026 | 稀土金属及其氧化物中非稀土杂质化学分析方法 第13部分：钼、钨含量的测定 | 即将实施 | 2026-02-27 | 2026-09-01 |
| YD/T 2972-2015 | 通信保护用金属氧化物压敏电阻器 | 现行 | 2015-10-14 | 2016-01-01 |