| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 33049-2016 | 偏光片用光学薄膜 涂层附着力的测定方法 | 现行 | 2016-10-13 | 2017-05-01 |
| GB/T 19523-2004 | 缩微摄影技术 16mm与35mm 缩微胶片防光片盘与片盘 技术规范 | 现行 | 2004-05-31 | 2004-12-01 |
| GB/T 39075.203-2023 | 普通照明用有机发光二极管（OLED）光源 安全 第2-3部分: 特殊要求 柔性OLED光片和面板 | 现行 | 2023-12-28 | 2026-01-01 |
| GB/T 4058-2009 | 硅抛光片氧化诱生缺陷的检验方法 | 现行 | 2009-10-30 | 2010-06-01 |
| JB/T 7472-1994 | 16/35mm缩微卷片用防光片盘和片盘 | 现行 | 1994-09-08 | 1995-07-01 |
| YS/T 25-1992 | 硅抛光片表面清洗方法 | 现行 | 1992-03-09 | 1993-01-01 |
| HG/T 5858-2021 | 光学级聚酯薄膜（PET）偏光片保护膜 | 现行 | 2021-03-05 | 2021-07-01 |
| HG/T 4357-2012 | 薄膜晶体管液晶显示器（TFT-LCD）用偏光片 | 现行 | 2012-11-07 | 2013-03-01 |
| GB/T 43313-2023 | 碳化硅抛光片表面质量和微管密度的测试 共焦点微分干涉法 | 现行 | 2023-11-27 | 2024-06-01 |
| GB/T 31379.1-2025 | 平板显示器偏光片测试方法 第1部分：理化性能 | 现行 | 2025-03-28 | 2025-10-01 |
| SY/T 6414-2014 | 全岩光片显微组分鉴定及统计方法 | 废止 | 2014-10-15 | |
| GB/T 30858-2014 | 蓝宝石单晶衬底抛光片 | 废止 | 2014-07-24 | 2015-04-01 |
| GB/T 46482-2025 | LED/LD用稀土荧光片 | 即将实施 | 2025-10-05 | 2026-05-01 |
| GB/T 34261-2017 | 偏光片用光学薄膜 抗划伤的测试 | 现行 | 2017-09-07 | 2018-04-01 |
| GB/T 47097-2026 | 氮化铝单晶抛光片 | 即将实施 | 2026-01-28 | 2026-08-01 |
| GB/T 47080-2026 | 金刚石单晶抛光片位错密度的测试方法 | 即将实施 | 2026-01-28 | 2026-08-01 |
| GB/T 31379.2-2025 | 平板显示器偏光片测试方法 第2部分：光学性能 | 即将实施 | 2025-10-05 | 2026-05-01 |
| GB/T 41325-2022 | 集成电路用低密度晶体原生凹坑硅单晶抛光片 | 现行 | 2022-03-09 | 2022-10-01 |