| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| T/ZZB 0648-2018 | 200 mm重掺磷直拉硅单晶抛光片 | 现行 | 2018-10-19 | 2018-11-01 |
| SJ/T 11489-2015 | 低位错密度磷化铟抛光片蚀坑密度的测量方法 | 现行 | 2015-04-30 | 2015-10-01 |
| SJ/T 11505-2015 | 蓝宝石单晶抛光片规范 | 现行 | 2015-04-30 | 2015-10-01 |
| SJ/T 11490-2015 | 低位错密度砷化镓抛光片蚀坑密度的测量方法 | 现行 | 2015-04-30 | 2015-10-01 |
| SJ/T 11503-2015 | 碳化硅单晶抛光片表面粗糙度的测试方法 | 现行 | 2015-04-30 | 2015-10-01 |
| SJ/T 11504-2015 | 碳化硅单晶抛光片表面质量的测试方法 | 现行 | 2015-04-30 | 2015-10-01 |
| HG/T 4150-2019 | 偏光片用三醋酸纤维素酯（TAC）薄膜 | 现行 | 2019-12-24 | 2020-07-01 |
| DZ/T 0275.3-2015 | 岩矿鉴定技术规范 第3部分：矿石光片制样 | 现行 | 2015-02-04 | 2015-04-01 |
| DZ/T 0275.5-2015 | 岩矿鉴定技术规范 第5部分：矿石光片鉴定 | 现行 | 2015-02-04 | 2015-04-01 |
| GB/T 31351-2014 | 碳化硅单晶抛光片微管密度无损检测方法 | 废止 | 2014-12-31 | 2015-09-01 |
| HG/T 4185-2011 | 偏光片用聚乙烯醇（PVA）薄膜 | 废止 | 2011-12-20 | 2012-07-01 |
| SJ/T 11502-2015 | 碳化硅单晶抛光片规范 | 废止 | 2015-04-30 | 2015-10-01 |
| HG/T 4150-2010 | 偏光片用三醋酸纤维素酯（TAC）薄膜 | 废止 | 2010-11-10 | 2011-03-01 |
| SY/T 6414-1999 | 全岩光片显微组分测定方法 | 废止 | 1999-05-17 | 1999-12-01 |
| GB/T 47902-2026 | 金刚石单晶抛光片 | 即将实施 | 2026-07-02 | 2027-02-01 |
| GB/T 12964-2003 | 硅单晶抛光片 | 废止 | 2003-06-16 | 2004-01-01 |
| GB/T 19921-2005 | 硅抛光片表面颗粒测试方法 | 废止 | 2005-09-19 | 2006-04-01 |
| GB/T 30656-2014 | 碳化硅单晶抛光片 | 废止 | 2014-12-31 | 2015-09-01 |