| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 32263-2015 | 高纯化合物 农残分析用化合物的测定 气相色谱-电子捕获检测器（ECD）法 | 现行 | 2017-01-01 | 找相似 |
| GB/T 29658-2013 | 电子薄膜用高纯铝及铝合金溅射靶材 | 现行 | 2014-05-01 | 找相似 |
| T/CNCIA 01037-2024 | 电子工业用高纯二氧化钛 | 现行 | 2025-12-01 | —— |
| YS/T 1636-2023 | 电子薄膜用高纯铜环 | 现行 | 2024-07-01 | 找相似 |
| YS/T 1025-2015 | 电子薄膜用高纯钨及钨合金溅射靶材 | 现行 | 2015-10-01 | 找相似 |
| YS/T 1053-2015 | 电子薄膜用高纯钴靶材 | 现行 | 2015-10-01 | 找相似 |
| SJ/T 3328.10-2016 | 电子产品用高纯石英砂 第10部分 铅的测定 | 现行 | 2016-06-01 | 找相似 |
| GB/T 18994-2014 | 电子工业用气体 高纯氯 | 废止 | 2015-07-01 | 找相似 |
| SJ/T 3328.3-2016 | 电子产品用高纯石英砂 第3部分 灼烧失量的测定 | 现行 | 2016-06-01 | 找相似 |
| SJ/T 3328.5-2016 | 电子产品用高纯石英砂 第5部分 铁的测定 | 现行 | 2016-06-01 | 找相似 |
| SJ/T 3328.4-2016 | 电子产品用高纯石英砂 第4部分 二氧化硅的测定 | 现行 | 2016-06-01 | 找相似 |
| SJ/T 3328.6-2016 | 电子产品用高纯石英砂 第6部分 铜的测定 | 现行 | 2016-06-01 | 找相似 |
| SJ/T 3328.2-2016 | 电子产品用高纯石英砂 第2部分 分析方法通则 | 现行 | 2016-06-01 | 找相似 |
| SJ/T 3328.8-2016 | 电子产品用高纯石英砂 第8部分 铝的测定 | 现行 | 2016-06-01 | 找相似 |
| SJ/T 3328.1-2016 | 电子产品用高纯石英砂 第1部分 技术条件 | 现行 | 2016-06-01 | 找相似 |
| SJ/T 3328.7-2016 | 电子产品用高纯石英砂 第7部分 铬的测定 | 现行 | 2016-06-01 | 找相似 |
| T/CNIA 0063-2020 | 电子工业用高纯硝酸 | 现行 | 2020-08-01 | —— |
| T/CNIA 0062-2020 | 电子工业用高纯氢氟酸 | 现行 | 2020-08-01 | —— |