Test method for resistivity and hall coefficient indium antimonide single crystals
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| SJ/T 11494-2015 | 硅单晶中III-V族杂质的光致发光测试方法 | 现行 | 2015-04-30 | 2015-10-01 |
| SJ/T 11500-2015 | 碳化硅单晶晶向的测试方法 | 现行 | 2015-04-30 | 2015-10-01 |
| GB/T 32278-2015 | 碳化硅单晶片平整度测试方法 | 废止 | 2015-12-10 | 2017-01-01 |
| GB/T 30866-2014 | 碳化硅单晶片直径测试方法 | 废止 | 2014-07-24 | 2015-02-01 |
| GB/T 30867-2014 | 碳化硅单晶片厚度和总厚度变化测试方法 | 废止 | 2014-07-24 | 2015-02-01 |
| SJ/T 11499-2015 | 碳化硅单晶电学性能的测试方法 | 废止 | 2015-04-30 | 2015-10-01 |
| GB/T 22453-2008 | 硼酸盐非线性光学单晶元件质量测试方法 | 废止 | 2008-10-07 | 2009-04-01 |
| GB/T 24581-2009 | 低温傅立叶变换红外光谱法测量硅单晶中III、V族杂质含量的测试方法 | 废止 | 2009-10-30 | 2010-06-01 |
| T/IAWBS 012-2019 | 碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度测试方法 ——共焦点微分干涉光学法 | 现行 | 2019-12-27 | 2019-12-31 |
| GB/T 11297.8-2015 | 热释电材料热释电系数的测试方法 | 现行 | 2015-12-31 | 2016-07-01 |
| GB/T 42657-2023 | 红外光学玻璃红外折射率温度系数测试方法 垂直入射法 | 现行 | 2023-08-06 | 2024-03-01 |
| QX/T 163-2012 | 空盒气压表（计）温度系数箱测试方法 | 现行 | 2012-08-30 | 2012-11-01 |
| DB32/T 4486-2023 | 基于泄漏率的垫片系数(m)和比压力(y)测试方法 | 现行 | 2023-06-26 | 2023-06-26 |
| GB/T 18029.13-2008 | 轮椅车 第13部分：测试表面摩擦系数的测定 | 现行 | 2008-12-31 | 2009-09-01 |
| GB/T 43891-2024 | 非金属化工设备 不透性石墨换热器传热系数和流阻性能测试方法 | 现行 | 2024-04-25 | 2024-11-01 |
| GB/T 46248-2025 | 槽式太阳能集热管热损系数测试方法 | 即将实施 | 2025-08-29 | 2026-03-01 |
| GB/T 19346.2-2017 | 非晶纳米晶合金测试方法 第2部分：带材叠片系数 | 现行 | 2017-09-07 | 2018-06-01 |
| GB/T 32561.4-2022 | 红外光学硫系玻璃测试方法 第4部分：光吸收系数 | 现行 | 2022-10-14 | 2023-05-01 |