Organic light emitting diode (OLED) displays - Part 61: Measuring methods of optical and electro-optical parameters
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| T/QGCML 030-2020 | 二极管扩散片常规电性标准 | 现行 | 2020-08-27 | —— |
| T/QDAS 050-2020 | 二极管扩散片研发规程 | 现行 | 2020-09-27 | —— |
| T/QGCML 097-2021 | 二极管扩散片包装技术规范 | 现行 | 2021-03-31 | —— |
| T/QDAS 070-2021 | 二极管扩散片硼扩散液态源配方 | 现行 | 2021-05-25 | —— |
| T/QDAS 094-2022 | 二极管GPP沟槽清洗用混合酸配方 | 现行 | 2022-07-22 | —— |
| GB/T 4023.4-2026 | 半导体分立器件 第4部分：微波二极管和晶体管 | 即将实施 | 2026-11-01 | 找相似 |
| GB/T 4023.3-2026 | 半导体分立器件 第3部分：信号、开关和调整二极管 | 即将实施 | 2026-11-01 | 找相似 |
| JB/T 5836.2-2026 | 快恢复二极管第2部分：模块 | 即将实施 | 2026-09-01 | 找相似 |
| SJ/T 12069-2025 | 半导体器件 分立器件 碳化硅二极管电参数测试方法 | 现行 | 2026-07-01 | 找相似 |
| SJ/T 12070-2025 | 半导体器件 分立器件 碳化硅二极管可靠性试验方法 | 现行 | 2026-07-01 | 找相似 |
| SJ/T 12071-2025 | 半导体器件 分立器件碳化硅二极管门类规范 | 现行 | 2026-07-01 | 找相似 |
| GB/T 48164.2-2026 | 半导体器件 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管（SiC MOSFET）可靠性试验方法 第2部分：体二极管工作引起双极退化的试验方法 | 即将实施 | 2027-03-01 | 找相似 |
| GB/T 46177-2025 | 有机发光显示用偏光片 | 即将实施 | 2026-05-01 | 找相似 |
| T/GDSM 001-2019 | 柔性显示屏发光特性检测方法 | 现行 | 2019-06-12 | —— |
| T/CSIA 001-2018 | 面板显示主动发光交通标志 | 现行 | 2018-12-01 | —— |
| SJ/T 11460.6.4-2023 | 显示光源组件 第 6-4 部分：测试方法 LED 发光板光电参数 | 现行 | 2023-11-01 | 找相似 |
| GB/Z 123.2-2025 | 纳米制造 材料规范 发光纳米材料 第2部分：常规照明和显示用详细规范 | 现行 | —— | 找相似 |
| T/GDSM 001-2019 | 柔性显示屏发光特性检测方法 | 现行 | 2019-06-12 | —— |