The technical norms for measurementand test of characteristic parameters of infrared focal plane arrays
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 17444-1998 | 红外焦平面阵列特性参数测试技术规范 | 废止 | 1999-05-01 | 找相似 |
| GB/T 17444-2013 | 红外焦平面阵列参数测试方法 | 现行 | 2014-04-15 | 找相似 |
| GB/T 41869.3-2024 | 光学和光子学 微透镜阵列 第3部分：光学特性测试方法 | 现行 | 2025-06-01 | 找相似 |
| GB/T 41869.4-2024 | 光学和光子学 微透镜阵列 第4部分：几何特性测试方法 | 现行 | 2025-03-01 | 找相似 |
| GB/T 28511.2-2023 | 平面光波导集成光路器件 第2部分：基于阵列波导光栅（AWG）技术的密集波分复用（DWDM）滤波器 | 现行 | 2024-04-01 | 找相似 |
| YD/T 3541-2019 | 平面光波导器件用光纤阵列 | 现行 | 2020-01-01 | 找相似 |
| YD/T 2000.2-2018 | 平面光波导集成光路器件 第2部分：基于阵列波导光栅（AWG)技术的密集波分复用（DWDM）滤波器 | 现行 | 2019-04-01 | 找相似 |
| YD/T 2000.2-2009 | 平面光波导集成光路器件 第2部分：基于阵列波导光栅（AWG）技术的密集波分复用（DWDM）滤波器 | 废止 | 2010-01-01 | 找相似 |
| GB/T 28511.2-2012 | 平面光波导集成光路器件 第2部分：基于阵列波导光栅（AWG）技术的密集波分复用（DWDM）滤波器 | 废止 | 2012-10-01 | 找相似 |
| YD/T 2000.4-2026 | 平面光波导集成光路器件 第4部分：阵列波导光栅路由器（AWGR） | 即将实施 | 2026-09-01 | 找相似 |
| SJ/T 12066-2025 | 热电堆阵列红外探测器 | 即将实施 | 2026-07-01 | 找相似 |
| T/CAIACN 005-2021 | 用飞行器测量扬声器阵列声场特性的方法 | 现行 | 2021-07-15 | —— |
| YY/T 1668-2019 | 阵列式脉冲回波超声换能器的基本电声特性和测量方法 | 现行 | 2021-08-01 | 找相似 |
| YD/T 4414-2023 | 数据中心存储阵列技术要求和测试方法 | 现行 | 2023-11-01 | 找相似 |
| GB/T 43798-2024 | 平板显示阵列用正性光阻材料测试方法 | 现行 | 2024-10-01 | 找相似 |
| GB/T 19247.6-2024 | 印制板组装 第6部分:球栅阵列（BGA）和盘栅阵列（LGA）焊点空洞的评估要求及测试方法 | 现行 | 2024-07-01 | 找相似 |
| GB/T 41869.2-2022 | 光学和光子学 微透镜阵列 第2部分：波前像差的测试方法 | 现行 | 2023-05-01 | 找相似 |
| SJ/T 11706-2018 | 半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法 | 现行 | 2018-04-01 | 找相似 |