Method for detecting dislocationsof synthetic quartz crystal using X-ray topographic technique
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 34481-2017 | 低位错密度锗单晶片腐蚀坑密度(EPD)的测量方法 | 现行 | 2018-07-01 | 找相似 |
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| T/IAWBS 014-2021 | 碳化硅单晶抛光片位错密度的测试方法 | 现行 | 2021-09-22 | —— |
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| GB/T 12274.1-2012 | 有质量评定的石英晶体振荡器 第1部分：总规范 | 现行 | 2013-02-15 | 找相似 |
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| GB/T 12274.4-2021 | 有质量评定的石英晶体振荡器 第4部分:分规范 能力批准 | 现行 | 2022-05-01 | 找相似 |