| SJ/T 2658.11-2015 | 半导体红外发射二极管测量方法 第11部分：响应时间 | 现行 | 2016-04-01 | 找相似 |
| SJ/T 2658.14-2016 | 半导体红外发射二极管测量方法 第14部分：结温 | 现行 | 2016-06-01 | 找相似 |
| SJ/T 2658.16-2016 | 半导体红外发射二极管测量方法 第16部分：光电转换效率 | 现行 | 2016-06-01 | 找相似 |
| SJ/T 11487-2015 | 半绝缘半导体晶片电阻率的无接触测量方法 | 现行 | 2015-10-01 | 找相似 |
| SJ/T 2658.15-2016 | 半导体红外发射二极管测量方法 第15部分：热阻 | 现行 | 2016-06-01 | 找相似 |
| SJ/T 11405-2009 | 光纤系统用半导体光电子器件 第2部分：测量方法 | 现行 | 2010-01-01 | 找相似 |
| SJ/T 2658.9-2015 | 半导体红外发射二极管测量方法 第9部分：辐射强度空间分布和半强度角 | 现行 | 2016-04-01 | 找相似 |
| SJ/T 2658.3-2015 | 半导体红外发射二极管测量方法 第3部分：反向电压和反向电流 | 现行 | 2016-04-01 | 找相似 |
| JB/T 8270-1995 | 静电复印光导体膜层厚度 测量方法 | 废止 | 1996-04-14 | 找相似 |
| GB/T 12113-2003 | 接触电流和保护导体电流的测量方法 | 废止 | 2004-08-01 | 找相似 |
| GB/T 21548-2008 | 光通信用高速直接调制半导体激光器的测量方法 | 废止 | 2008-11-01 | 找相似 |
| GB/T 4937.39-2025 | 半导体器件 机械和气候试验方法 第39部分：半导体器件用有机材料的潮气扩散率和水溶解度测量 | 即将实施 | 2026-07-01 | 找相似 |
| JB/T 8270-1999 | 静电复印光导体膜层厚度 测量方法 | 现行 | 2000-01-01 | 找相似 |
| GB/T 15879.620-2026 | 半导体器件的机械标准化 第6-20部分：表面安装半导体器件封装外形图绘制的一般规则 小外形J形引线封装（SOJ）尺寸测量方法 | 即将实施 | 2027-02-01 | 找相似 |
| GB/T 15879.603-2026 | 半导体器件的机械标准化 第6-3部分：表面安装半导体器件封装外形图绘制的一般规则 四边扁平封装（QFP）的尺寸测量方法 | 即将实施 | 2027-02-01 | 找相似 |
| GB/T 42709.8-2026 | 半导体器件 微电子机械器件 第8部分：带状薄膜拉伸特性测量的弯曲试验方法 | 即将实施 | 2027-02-01 | 找相似 |
| GB/T 21115-2007 | 块状氧化物超导体磁浮力的测量 | 现行 | 2007-12-01 | 找相似 |
| GB/T 21546-2008 | 铌钛复合超导体的直流临界电流测量 | 现行 | 2008-11-01 | 找相似 |