| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 42897-2023 | 微机电系统（MEMS）技术 硅基MEMS纳米厚度膜抗拉强度试验方法 | 现行 | 2023-08-06 | 2023-12-01 |
| GB/T 32278-2025 | 碳化硅单晶片厚度和平整度测试方法 | 现行 | 2025-08-01 | 2026-02-01 |
| HG/T 3050.3-2020 | 橡胶或塑料涂覆织物 整卷特性的测定 第3部分：测定厚度的方法 | 现行 | 2020-12-09 | 2021-04-01 |
| GB/T 33399-2016 | 光学功能薄膜 聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET)薄膜 厚度测定方法 | 现行 | 2016-12-30 | 2017-07-01 |
| GB/T 43748-2024 | 微束分析 透射电子显微术 集成电路芯片中功能薄膜层厚度的测定方法 | 现行 | 2024-03-15 | 2024-10-01 |
| GB/T 32331-2015 | 织物芯输送带 带总厚度和各层厚度 试验方法 | 现行 | 2015-12-31 | 2016-07-01 |
| SJ/T 10171.1-1991 | 碱性蓄电池隔膜性能测试方法 隔膜厚度的测定 | 现行 | 1991-05-28 | 1991-12-01 |
| GB/T 22638.1-2016 | 铝箔试验方法 第1部分: 厚度的测定 | 现行 | 2016-12-13 | 2017-11-01 |
| GB/T 33051-2016 | 光学功能薄膜 表面硬化薄膜 硬化层厚度测定方法 | 现行 | 2016-10-13 | 2017-05-01 |
| GB/T 34190-2017 | 电工钢表面涂层的重量（厚度） X射线光谱测试方法 | 现行 | 2017-09-07 | 2018-06-01 |
| GB/T 36969-2018 | 纳米技术 原子力显微术测定纳米薄膜厚度的方法 | 现行 | 2018-12-28 | 2018-12-28 |
| GB/T 20724-2021 | 微束分析 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法 | 现行 | 2021-12-31 | 2022-07-01 |
| T/CISA 235-2022 | 钢板和钢带全板厚度精度评价指标及计算方法 | 现行 | 2022-07-08 | 2022-08-01 |
| T/CCCTA 0054-2024 | 输变电设备腐蚀锈层厚度检测方法 | 现行 | 2024-07-30 | 2024-08-30 |
| T/CSTM 00556.2-2022 | 地坪工程现场验收检测方法 第2部分：厚度的测定 | 现行 | 2022-03-24 | 2022-06-24 |
| QB/T 1089-2001 | 机制地毯厚度的试验方法 | 现行 | 2001-11-15 | 2002-05-01 |
| GB/T 30867-2014 | 碳化硅单晶片厚度和总厚度变化测试方法 | 废止 | 2014-07-24 | 2015-02-01 |
| QB/T 1912-1993 | 眼镜架金属镀层厚度测试方法--X荧光光谱法 | 废止 | 1994-01-06 | 1994-08-01 |