| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 12965-2005 | 硅单晶切割片和研磨片 | 废止 | 2006-04-01 | 找相似 |
| GB/T 20230-2006 | 磷化铟单晶 | 废止 | 2006-10-01 | 找相似 |
| GB/T 20229-2006 | 磷化镓单晶 | 废止 | 2006-10-01 | 找相似 |
| GB/T 20228-2006 | 砷化镓单晶 | 废止 | 2006-10-01 | 找相似 |
| GB/T 8760-2006 | 砷化镓单晶位错密度的测量方法 | 废止 | 2006-11-01 | 找相似 |
| GB/T 5252-2006 | 锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法 | 废止 | 2006-11-01 | 找相似 |
| GB/T 11094-2007 | 水平法砷化镓单晶及切割片 | 废止 | 2008-02-01 | 找相似 |
| GB/T 22453-2008 | 硼酸盐非线性光学单晶元件质量测试方法 | 废止 | 2009-04-01 | 找相似 |
| GB/T 22452-2008 | 硼酸盐非线性光学单晶元件通用技术条件 | 废止 | 2009-04-01 | 找相似 |
| GB/T 5238-2009 | 锗单晶和锗单晶片 | 废止 | 2010-06-01 | 找相似 |
| GB/T 24581-2009 | 低温傅立叶变换红外光谱法测量硅单晶中III、V族杂质含量的测试方法 | 废止 | 2010-06-01 | 找相似 |
| GB/T 1551-2009 | 硅单晶电阻率测定方法 | 废止 | 2010-06-01 | 找相似 |
| GB/T 1555-2009 | 半导体单晶晶向测定方法 | 废止 | 2010-06-01 | 找相似 |
| GB/T 25076-2010 | 太阳电池用硅单晶 | 废止 | 2011-04-01 | 找相似 |
| GB/T 26071-2010 | 太阳能电池用硅单晶切割片 | 废止 | 2011-10-01 | 找相似 |
| GB/T 31092-2014 | 蓝宝石单晶晶锭 | 废止 | 2015-09-01 | 找相似 |
| GB/T 30656-2014 | 碳化硅单晶抛光片 | 废止 | 2015-09-01 | 找相似 |
| GB/T 35306-2017 | 硅单晶中碳、氧含量的测定 低温傅立叶变换红外光谱法 | 废止 | 2018-07-01 | 找相似 |