| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 4023.1-2026 | 半导体分立器件 第1部分：分规范 | 即将实施 | 2026-10-01 | 找相似 |
| GB/T 7581-2026 | 半导体分立器件外形尺寸 | 即将实施 | 2026-10-01 | 找相似 |
| SJ/T 11874-2022 | 电动汽车用半导体分立器件应力试验程序 | 现行 | 2023-01-01 | 找相似 |
| GZB 6-25-02-06 | 半导体分立器件和集成电路装调工 | 现行 | 2019-01-14 | 找相似 |
| DB61/T 1250-2019 | Sic（碳化硅）材料半导体分立器件通用规范 | 废止 | 2019-07-25 | 找相似 |
| GB/T 249-1989 | 半导体分立器件型号命名方法 | 废止 | 1990-04-01 | 找相似 |
| GB/T 4587-1994 | 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 | 废止 | 1995-08-01 | 找相似 |
| GB/T 37312.1-2019 | 航空电子过程管理 航空航天、国防及其他高性能应用领域（ADHP）电子元器件 第1部分：高可靠集成电路与分立半导体器件通用要求 | 现行 | 2019-10-01 | 找相似 |
| GB/Z 127.1-2025 | 航空电子过程管理 航空航天合格电子元器件（AQEC） 第1部分：集成电路和半导体分立器件 | 现行 | —— | 找相似 |
| GB/Z 102.17-2026 | 半导体器件分立器件 第17部分：基本绝缘和加强绝缘的磁耦合器和电容耦合器 | 现行 | —— | 找相似 |
| GB/T 4023.4-2026 | 半导体分立器件 第4部分：微波二极管和晶体管 | 即将实施 | 2026-11-01 | 找相似 |
| GB/T 4023.3-2026 | 半导体分立器件 第3部分：信号、开关和调整二极管 | 即将实施 | 2026-11-01 | 找相似 |
| SJ/T 12032-2025 | 半导体器件分立器件 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管电参数测试方法 | 现行 | 2026-03-01 | 找相似 |
| SJ/T 12067-2025 | 半导体器件分立器件 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管门类规范 | 现行 | 2026-07-01 | 找相似 |
| SJ/T 12068-2025 | 半导体器件分立器件 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管可靠性试验方法 | 现行 | 2026-07-01 | 找相似 |
| SJ/T 12069-2025 | 半导体器件分立器件 碳化硅二极管电参数测试方法 | 现行 | 2026-07-01 | 找相似 |
| SJ/T 12070-2025 | 半导体器件分立器件 碳化硅二极管可靠性试验方法 | 现行 | 2026-07-01 | 找相似 |
| SJ/T 12071-2025 | 半导体器件分立器件碳化硅二极管门类规范 | 现行 | 2026-07-01 | 找相似 |