硅片表面光泽度的测试方法(外文版EN)

Test method for gloss of silicon wafer

GB/T 42789-2023推荐性国家标准

现行

上传时间:2026-05-26
格式:pdf

GB/T 42789-2023 相似标准 第9页

更新时间 2026-10-25
标准号标准名称状态发布日期实施日期
T/SMA 0047-2024轨道交通高压屏蔽线缆及连接器表面转移阻抗测试方法现行2024-08-292024-09-15
T/GVS 008-2022轴流风机叶轮表面抗老化PVD涂层测试方法现行2022-08-262022-08-26
T/FSI 049-2020气相二氧化硅表面硅羟基含量测试方法现行2020-04-302020-05-30
T/IAWBS 012-2019碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度测试方法 ——共焦点微分干涉光学法现行2019-12-272019-12-31
T/GDPIA 1-2019塑料制品表面排斥细菌粘附能力的测试方法现行2019-09-192019-09-29
T/IAWBS 002-2017碳化硅外延片表面缺陷测试方法现行2017-12-202017-12-31
GB/T 43264-2023永磁体表面磁场分布测试方法(外文版EN)现行2024-09-02
SJ/T 11503-2015碳化硅单晶抛光片表面粗糙度的测试方法现行2015-04-302015-10-01
SJ/T 11504-2015碳化硅单晶抛光片表面质量的测试方法现行2015-04-302015-10-01
HG/T 6204-2023光学聚酯薄膜 表面低聚物的测试方法现行2023-12-202024-07-01
GB/T 20170.2-2026稀土金属及其化合物物理性能测试方法 第2部分:稀土化合物比表面积的测定 氮气吸附法即将实施2026-05-252026-12-01
YS/T 679-2008非本征半导体中少数载流子扩散长度的稳态表面光电压测试方法废止2008-03-122008-09-01
QB/T 1327-1991皮革表面颜色摩擦牢度测试方法废止1991-11-251992-08-01
DB21/T 3133-2019日用陶瓷器具表面温度测试方法废止2019-04-302019-05-30
DB35/T 1472-2014工业锅炉表面散热损失红外热像测试方法废止2014-12-292015-03-02
GB/T 16601-1996光学表面激光损伤阈值测试方法 第1部分:1对1测试废止1996-11-071997-04-01
GB/T 19921-2005硅抛光片表面颗粒测试方法废止2005-09-192006-04-01
GB/T 2522-2007电工钢片(带)表面绝缘电阻、涂层附着性测试方法废止2007-01-112007-06-01