| YS/T 1600-2023 | 碳化硅单晶中痕量杂质元素含量的测定辉光放电质谱法 | 现行 | 2023-11-01 | 相似 |
| T/CASAS 009-2019 | 半绝缘碳化硅材料中痕量杂质浓度及分布的二次离子质谱检测方法 | 现行 | 2019-11-25 | —— |
| T/CASAS 009-2019 | 半绝缘碳化硅材料中痕量杂质浓度及分布的二次离子质谱检测方法 | 现行 | 2019-11-25 | —— |
| GB/T 41153-2021 | 碳化硅单晶中硼、铝、氮杂质含量的测定 二次离子质谱法 | 现行 | 2022-07-01 | 相似 |
| GB/T 36590-2018 | 高纯银化学分析方法 痕量杂质元素的测定辉光放电质谱法 | 现行 | 2019-06-01 | 相似 |
| YS/T 229.4-2013 | 高纯铅化学分析方法 第4部分：痕量杂质元素含量的测定辉光放电质谱法 | 现行 | 2014-03-01 | 相似 |
| YS/T 895-2013 | 高纯铼化学分析方法 痕量杂质元素的测定辉光放电质谱法 | 现行 | 2014-03-01 | 相似 |
| YS/T 917-2013 | 高纯镉化学分析方法 痕量杂质元素含量的测定辉光放电质谱法 | 现行 | 2014-03-01 | 相似 |
| YS/T 1347-2020 | 高纯铪化学分析方法 痕量杂质元素含量的测定辉光放电质谱法 | 现行 | 2020-10-01 | 相似 |
| YS/T 870-2020 | 纯铝化学分析方法 痕量杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体质谱法 | 现行 | 2021-04-01 | 相似 |
| YS/T 922-2013 | 高纯铜化学分析方法 痕量杂质元素含量的测定辉光放电质谱法 | 现行 | 2014-03-01 | 相似 |
| YB/T 6158-2023 | 金属铬 痕量杂质元素含量的测定辉光放电质谱法 | 现行 | 2024-07-01 | 相似 |
| GB/T 45020-2024 | 铌铪合金化学分析方法 痕量杂质元素的测定 电感耦合等离子体质谱法 | 现行 | 2025-06-01 | 相似 |
| GB/T 13748.24-2025 | 镁及镁合金化学分析方法 第24部分：痕量杂质元素的测定辉光放电质谱法 | 现行 | 2025-08-01 | 相似 |
| GB/T 13747.27-2020 | 锆及锆合金化学分析方法 第27部分：痕量杂质元素的测定 电感耦合等离子体质谱法 | 现行 | 2021-02-01 | 相似 |
| GB/T 37211.3-2022 | 金属锗化学分析方法 第3部分:痕量杂质元素的测定辉光放电质谱法 | 现行 | 2023-04-01 | 相似 |
| GB/T 36590-2018 | 高纯银化学分析方法 痕量杂质元素的测定辉光放电质谱法（外文版EN） | 现行 | | 相似 |
| YS/T 1467.12-2021 | 铪化学分析方法 第12部分：痕量杂质元素的测定 | 现行 | 2022-04-01 | 相似 |