| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| SJ/T 11488-2015 | 半绝缘砷化镓电阻率、霍尔系数和迁移率测试方法 | 现行 | 2015-10-01 | 找相似 |
| JJF 2064-2023 | 多结砷化镓太阳电池校准规范 光谱响应度 | 现行 | 2023-12-30 | 找相似 |
| GB/T 30856-2014 | LED外延芯片用砷化镓衬底 | 废止 | 2015-04-01 | 找相似 |
| GB/T 47901-2026 | 激光器外延芯片用砷化镓衬底 | 即将实施 | 2027-02-01 | 找相似 |
| GB/T 20228-2006 | 砷化镓单晶 | 废止 | 2006-10-01 | 找相似 |
| GB/T 11094-2007 | 水平法砷化镓单晶及切割片 | 废止 | 2008-02-01 | 找相似 |
| DB12/T 101.253-2003 | 工业产品取水定额 砷化镓抛光片 [天津市] | 废止 | 2003-09-03 | 找相似 |
| YS/T 1744-2025 | 半绝缘砷化镓单晶衬底片 | 现行 | 2025-11-01 | 找相似 |
| GB/T 1557-2018 | 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法 | 现行 | 2019-06-01 | 找相似 |
| SJ/T 10625-1995 | 锗单晶中间隙氧含量的红外吸收测量方法 | 现行 | 1995-10-01 | 找相似 |
| SJ/T 11491-2015 | 短基线红外吸收光谱法测量硅中间隙氧含量 | 现行 | 2015-10-01 | 找相似 |
| SJ/T 11552-2015 | 以布鲁斯特角入设P偏振辐射红外吸收光谱法测量硅中间隙氧含量 | 现行 | 2016-04-01 | 找相似 |
| GB/T 1557-2006 | 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法 | 废止 | 2006-11-01 | 找相似 |
| GB/T 1558-2009 | 硅中代位碳原子含量 红外吸收测量方法 | 废止 | 2010-06-01 | 找相似 |
| SN/T 0837.3-2011 | 进出口三氧化二砷化学分析方法 第3部分:铁含量的测定 | 现行 | 2011-07-01 | 找相似 |
| SN/T 0837.1-2011 | 进出口三氧化二砷化学分析方法 第1部分:三氧化二砷含量的测定 | 现行 | 2011-07-01 | 找相似 |
| GB/T 6730.45-2025 | 铁矿石 砷含量的测定 砷化氢分离—砷钼蓝分光光度法 | 现行 | 2026-01-01 | 找相似 |
| YS/T 34.1-2011 | 高纯砷化学分析方法 电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)测定高纯砷中杂质含量 | 现行 | 2012-07-01 | 找相似 |