The method of determining interstitial oxygen content in silicon by infrared absorption
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 1557-2018 | 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法 | 现行 | 2019-06-01 | 相似 |
| GB/T 1557-2006 | 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法 | 废止 | 2006-11-01 | 相似 |
| GB/T 14144-2009 | 硅晶体中间隙氧含量径向变化测量方法 | 现行 | 2010-06-01 | 相似 |
| GB/T 43612-2023 | 碳化硅晶体材料缺陷图谱 | 现行 | 2024-07-01 | 相似 |
| GB/T 1554-2009 | 硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法 | 现行 | 2010-06-01 | 相似 |
| SJ/T 10625-1995 | 锗单晶中间隙氧含量的红外吸收测量方法 | 现行 | 1995-10-01 | 相似 |
| SJ/T 11491-2015 | 短基线红外吸收光谱法测量硅中间隙氧含量 | 现行 | 2015-10-01 | 相似 |
| SJ/T 11552-2015 | 以布鲁斯特角入设P偏振辐射红外吸收光谱法测量硅中间隙氧含量 | 现行 | 2016-04-01 | 相似 |
| T/CASAS 032-2023 | 碳化硅晶片表面金属元素含量的测定电感耦合等离子体质谱法 | 现行 | 2023-06-19 | —— |
| HG/T 6149-2023 | 加氢催化剂及其载体中二氧化硅晶相含量的测定 X射线衍射法 | 现行 | 2023-11-01 | 相似 |
| GB/T 25188-2010 | 硅晶片表面超薄氧化硅层厚度的测量 X射线光电子能谱法 | 现行 | 2011-08-01 | 相似 |
| GB/T 37213-2018 | 硅晶锭尺寸的测定 激光法 | 现行 | 2019-11-01 | 相似 |
| GB/T 26066-2010 | 硅晶片上浅腐蚀坑检测的测试方法 | 现行 | 2011-10-01 | 相似 |
| T/CASAS 013-2021 | 碳化硅晶片位错密度检测方法 KOH腐蚀结合图像识别法 | 现行 | 2021-12-01 | —— |
| JB/T 14807-2025 | 电器用云母硅晶发热膜 | 现行 | 2025-11-01 | 相似 |
| T/IAWBS 021-2024 | 碳化硅晶片边缘轮廓检验方法 | 现行 | 2024-04-09 | —— |
| GB/T 5059.7-2014 | 钼铁 碳含量的测定 红外线吸收法 | 现行 | 2015-01-01 | 相似 |
| GB/T 24583.6-2019 | 钒氮合金 硫含量的测定 红外线吸收法 | 现行 | 2020-07-01 | 相似 |