半导体激光器器件测试方法

T/CVIA 134-2024制造业

现行

更新日期:2026-08-21

标准状态

发布日期

2024-05-20

实施日期

2024-05-20

基础信息

标准号

T/CVIA 134-2024

包含专利

否

标准分类

国际标准分类号

31.120

标准层级

团体标准

主要技术内容

本标准规定了半导体激光器器件的测试方法和判定标准。本文件适用于半导体激光器器件的设计和检验。

起草单位

青岛海信激光显示股份有限公司、扬州吉新光电有限公司、中国华录集团有限公司、中光学集团股份有限公司、成都菲斯特科技有限公司、青岛海尔多媒体有限公司、四川长虹电器股份有限公司、深圳光峰科技股份有限公司、中山联合光电科技股份有限公司、杭州中科极光科技有限公司、宁波激智科技股份有限公司、极米科技股份有限公司、杭州科汀光学技术有限公司、深圳市火乐科技发展有限公司、上海唯视锐光电技术有限公司、芯鼎微(中山)光电半导体有限公司、艾弗堤西科技(深圳)有限公司、江苏舜合物联网科技有限公司、上海凝汐智能科技发展有限公司

起草人

周子楠、颜珂、张昕、刘昕、郝亚斌、冯晓曦、彭健锋、董敏、孙阳、马卫华、吴庆富、崔志龙、康健、高丽晶、杨佳翼、李一、毕勇、赵国林、罗廷、金波、陈晓峰、王蔚生、时保华、蔡文海、施耀华、刘丽娜、钟强、刘晨、张利利

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