碳化硅单晶片 X 射线双晶摇 摆曲线半高宽测试方法

T/IAWBS 016-2022制造业

现行

标准状态

发布日期

2022-03-17

实施日期

2022-03-24

基础信息

标准号

T/IAWBS 016-2022

团体名称

中关村天合宽禁带半导体技术创新联盟

包含专利

标准分类

国际标准分类号

29.045

行业分类

C398 电子元件及电子专用材料制造

标准层级

团体标准

适用范围

本文件规定了利用双晶 X 射线衍射仪测试碳化硅单晶片摇摆曲线半高宽的方法。 本文件适用于物理气相传输及其它方法生长制备的碳化硅单晶片。 本文件适用于在室温下碳化硅单晶片的正晶向和偏角度的摇摆曲线检测。

主要技术内容

本文件规定了利用双晶 X 射线衍射仪测试碳化硅单晶片摇摆曲线半高宽的方法。本文件适用于物理气相传输及其它方法生长制备的碳化硅单晶片。本文件适用于在室温下碳化硅单晶片的正晶向和偏角度的摇摆曲线检测。

起草单位

国宏中宇科技发展有限公司、中关村天合宽禁带半导体技术创新联盟、中科钢研节能科技有限公司、北京天科合达半导体股份有限公司、中国科学院物理研究所、北京三平泰克科技有限责任公司、北京聚睿众邦科技有限公司、芜湖启迪半导体有限公司、中国科学院半导体研究所

起草人

刘素娟、鲍慧强、李龙远、王锡铭、赵然、赵子强、刘春俊、闫方亮、郑红军、王文军、钮应喜、刘兴昉、刘祎晨

T/IAWBS 016-2022 相关专题

T/IAWBS 016-2022 相似标准

标准号标准名称状态发布日期实施日期
T/NXCL 011-2022窑具用碳化硅微粉技术规范现行2022-11-182022-11-18
T/SDAMA 008-2025碳化硅陶瓷晶舟现行2025-03-172025-03-17
T/CASAS 048-2025碳化硅单晶生长用等静压石墨现行2025-04-232025-04-23
T/SDAMA 010-2025碳化硅陶瓷晶舟制品用高纯碳化硅粉体现行2025-05-302025-05-30
GB/T 32978-2016碳化硅质高温陶瓷过滤元件现行2016-08-292017-07-01
GB/T 21944.3-2022碳化硅特种制品 反应烧结碳化硅窑具 第3部分:辊棒现行2022-07-112023-02-01
GB/T 30656-2023碳化硅单晶抛光片现行2023-03-172023-10-01
GB/T 21944.2-2022碳化硅特种制品 反应烧结碳化硅窑具 第2部分:异形梁现行2022-07-112023-02-01
GB/T 2480-2022普通磨料 碳化硅现行2022-03-092022-10-01
GB/T 42902-2023碳化硅外延片表面缺陷的测试 激光散射法现行2023-08-062024-03-01
GB/T 41765-2022碳化硅单晶位错密度的测试方法现行2022-10-142023-05-01
GB/T 34520.8-2021连续碳化硅纤维测试方法 第8部分:氧含量现行2021-08-202022-03-01
GB/T 34520.6-2017连续碳化硅纤维测试方法 第6部分:电阻率现行2017-11-012018-02-01
JB/T 10044-2015碳化硅特种制品 硅碳管现行2015-10-102016-03-01
JB/T 10988-2023碳化硅特种制品 反应烧结碳化硅 脱硫喷嘴现行2023-12-292024-07-01
JB/T 14612-2023碳化硅特种制品 硅碳棒电加热加速老化试验方法现行2023-12-292024-07-01
JB/T 10152-2023碳化硅特种制品 氮化硅结合碳化硅现行2023-12-292024-07-01
GB/T 21944.1-2022碳化硅特种制品 反应烧结碳化硅窑具 第1部分:方梁现行2022-03-092022-10-01
GB/T 43885-2024碳化硅外延片现行2024-04-252024-11-01
GB/T 34520.7-2017连续碳化硅纤维测试方法 第7部分:高温强度保留率现行2017-11-012018-02-01
GB/T 32278-2025碳化硅单晶片厚度和平整度测试方法现行2025-08-012026-02-01
JC/T 2149-2012高纯碳化硅粉体成分分析方法现行2012-12-282013-06-01
JC/T 2013-2010碳化硅特种制品 反应烧结碳化硅现行2010-11-102011-03-01
JC/T 2212-2014常压固相烧结碳化硅陶瓷热交换管现行2014-05-062014-10-01
T/ZSSP 0010-2022无骨脆肉鲩鱼柳现行2022-03-172022-03-17