即将实施
2026-08-18
2027-04-01
108809-2026
2026-10-16
本文件规定了再生硅片的分类、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存及随行文件和订货单内容。本文件适用于从半导体行业硅片的生产、芯片制造、工艺研发和设备调试等环节中产生的,经过专门分选、预处理后符合相关监管部门的环保要求和满足再次加工利用条件的硅单晶片。本文件不适用于回炉进行冶炼、铸造等的硅片。
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| YS/T 1902-2026 | 节水型企业 电解铜箔行业 | 即将实施 | 2026-08-18 | 2027-04-01 |
| YS/T 1904-2026 | 再生硅片 | 即将实施 | 2026-08-18 | 2027-04-01 |
| T/SEPA 4-2022 | 局部放电EFPI光纤超声传感器探头MEMS制造技术 第1部分:基于SOI硅片的工艺规范 | 现行 | 2022-12-01 | 2023-02-01 |
| DB31/ 792-2014 | 硅单晶及其硅片单位产品能源消耗限额 | 有更新版 | 2014-04-15 | 2014-08-01 |
| YS/T 28-2024 | 硅片包装和标志 | 现行 | 2024-10-24 | 2025-05-01 |
| T/CPIA 0022-2020 | 光伏硅片制造业绿色工厂评价要求 | 现行 | 2020-03-10 | 2020-03-20 |
| T/CPIA 0021-2020 | 绿色设计产品评价技术规范 光伏硅片 | 现行 | 2020-03-10 | 2020-03-20 |
| GB/T 26068-2010 | 硅片载流子复合寿命的无接触微波反射光电导衰减测试方法 | 废止 | 2011-01-10 | 2011-10-01 |
| GB/T 19444-2004 | 硅片氧沉淀特性的测定 间隙氧含量减少法 | 废止 | 2004-02-05 | 2004-07-01 |
| DB61/T 512-2011 | 太阳电池用单晶硅片检验规则 | 废止 | 2011-04-20 | 2011-05-01 |
| YS/T 26-1992 | 硅片边缘轮廓检验方法 | 废止 | 1992-03-09 | 1993-01-01 |
| YS/T 28-1992 | 硅片包装 | 废止 | 1992-03-09 | 1993-01-01 |
| YS/T 28-2015 | 硅片包装 | 废止 | 2015-04-30 | 2015-10-01 |
| GB/T 14140-2009 | 硅片直径测量方法 | 废止 | 2009-10-30 | 2010-06-01 |
| GB/T 47906-2026 | 300mm硅片表面纳米形貌的评价方法 | 即将实施 | 2026-07-02 | 2027-02-01 |
| T/CSTE 0535-2024 | 质量分级及“领跑者”评价要求 光伏硅片 | 现行 | 2024-03-10 | 2024-03-15 |
| SJ/T 11631-2016 | 太阳能电池用硅片外观缺陷测试方法 | 现行 | 2016-04-05 | 2016-09-01 |
| SJ/T 11630-2016 | 太阳能电池用硅片几何尺寸测试方法 | 现行 | 2016-04-05 | 2016-09-01 |
| SJ/T 11632-2016 | 太阳能电池用硅片微裂纹缺陷的测试方法 | 现行 | 2016-04-05 | 2016-09-01 |
| SJ/T 11627-2016 | 太阳能电池用硅片电阻率在线测试方法 | 现行 | 2016-04-05 | 2016-09-01 |