Nanotechnologies—Test method of semiconductor nanopowder using UV-Vis diffuse reflectance spectroscopy
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 45762-2025 | 精细陶瓷 室内照明环境下半导体光催化材料测试用光源 | 现行 | 2025-06-30 | 2026-01-01 |
| SJ/T 11775-2021 | 半导体材料多线切割机 | 现行 | 2021-03-05 | 2021-06-01 |
| GB/T 46227-2025 | 半导体单晶材料透过率测试方法 | 即将实施 | 2025-08-29 | 2026-03-01 |
| GB/T 44558-2024 | III族氮化物半导体材料中位错成像的测试 透射电子显微镜法 | 现行 | 2024-09-29 | 2025-04-01 |
| GB/T 14264-2024 | 半导体材料术语 | 现行 | 2024-04-25 | 2024-11-01 |
| GB/T 36646-2018 | 制备氮化物半导体材料用氢化物气相外延设备 | 现行 | 2018-09-17 | 2019-01-01 |
| GB/T 1550-2018 | 非本征半导体材料导电类型测试方法 | 现行 | 2018-12-28 | 2019-11-01 |
| GB/T 31469-2015 | 半导体材料切削液 | 现行 | 2015-05-15 | 2016-01-01 |
| T/CI 544-2024 | 低维半导体材料生长 、表征及电子元器件制作流程规范 | 现行 | 2024-10-08 | 2024-10-08 |
| DB61/T 1250-2019 | Sic（碳化硅）材料半导体分立器件通用规范 | 废止 | 2019-06-25 | 2019-07-25 |
| GB/T 4298-1984 | 半导体硅材料中杂质元素的活化分析方法 | 废止 | 1984-03-28 | 1985-03-01 |
| GB/T 14264-1993 | 半导体材料术语 | 废止 | 1993-03-20 | 1993-12-01 |
| GB/T 14844-1993 | 半导体材料牌号表示方法 | 废止 | 1993-12-30 | 1994-09-01 |
| GB/T 1550-1997 | 非本征半导体材料导电类型测试方法 | 废止 | 1997-06-03 | 1997-12-01 |
| GB/T 14264-2009 | 半导体材料术语 | 废止 | 2009-10-30 | 2010-06-01 |
| GB/T 4937.39-2025 | 半导体器件 机械和气候试验方法 第39部分：半导体器件用有机材料的潮气扩散率和水溶解度测量 | 即将实施 | 2025-12-31 | 2026-07-01 |
| T/ZJATA 0017-2023 | 制备碳化硅半导体材料用化学气相沉积法(CVD)外延设备 | 现行 | 2023-06-20 | 2023-07-20 |
| YS/T 1828-2025 | 半导体材料掺杂用扩散膜 | 即将实施 | 2025-12-17 | 2026-07-01 |