半导体照明设备和系统的光辐射安全测试方法

Measuring methods of optical radiation safety for semiconductor lighting equipments and systems

GB/T 36005-2018 推荐性国家标准

现行

GB/T 36005-2018 相似标准 第14页

更新时间 2026-10-25
标准号 标准名称 状态 实施日期 相似标准
JB/T 7622-1994 电力半导体器件工艺用有机硅漆 现行 1995-06-01 找相似
JB/T 6307.5-1994 电力半导体模块测试方法 双极型晶体管单相桥和三相桥 现行 1995-06-01 找相似
JB/T 8661-1997 电力半导体模块结构件 废止 1998-02-01 找相似
JB/T 6307.2-1992 电力半导体模块测试方法整流管单相桥 废止 1993-01-01 找相似
JB/T 8757-1998 电力半导体器件用热管散热器 废止 1998-12-01 找相似
JB/T 11623-2013 平面厚膜半导体气敏元件 现行 2014-07-01 找相似
JB/T 5537-2006 半导体压力传感器 现行 2007-07-01 找相似
GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 现行 1993-08-01 找相似
JB/T 9684-2000 电力半导体器件用散热器选用导则 废止 2000-10-01 找相似
JB/T 9687.2-1999 电力半导体器件用钨圆片 现行 2000-01-01 找相似
GB/T 42836-2023 微波半导体集成电路 混频器 现行 2023-12-01 找相似
GB/T 42970-2023 半导体集成电路 视频编解码电路测试方法 现行 2024-01-01 找相似
GB/T 42709.7-2023 半导体器件 微电子机械器件 第7部分:用于射频控制和选择的MEMS体声波滤波器和双工器 现行 2023-12-01 找相似
GB/T 35010.1-2018 半导体芯片产品 第1部分:采购和使用要求 现行 2018-08-01 找相似
GB/T 13062-2018 半导体器件 集成电路 第21-1部分:膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(采用鉴定批准程序) 现行 2019-07-01 找相似
GB/T 4937.31-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第31部分:塑封器件的易燃性(内部引起的) 现行 2023-12-01 找相似
GB/T 4937.23-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第23部分:高温工作寿命 现行 2023-12-01 找相似
GB/T 35010.8-2018 半导体芯片产品 第8部分:数据交换的EXPRESS格式 现行 2018-08-01 找相似