Measuring methods of optical radiation safety for semiconductor lighting equipments and systems
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 6588-2000 | 半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管 第1篇 信号二极管、开关二极管和可控雪崩二极管空白详细规范 | 现行 | 2001-10-01 | 找相似 |
| GB/T 17940-2000 | 半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路 | 现行 | 2000-07-01 | 找相似 |
| GB/T 42848-2023 | 半导体集成电路 直接数字频率合成器测试方法 | 现行 | 2023-12-01 | 找相似 |
| DB31/ 374-2024 | 半导体行业污染物排放标准 [上海市] | 现行 | 2024-05-01 | 找相似 |
| GB/T 1555-2023 | 半导体单晶晶向测定方法 | 现行 | 2024-03-01 | 找相似 |
| GB/T 14548-2025 | 船用半导体变流器通用技术条件 | 现行 | 2026-02-01 | 找相似 |
| GB/T 13151-2005 | 半导体器件 分立器件 第6部分:晶闸管 第3篇 电流大于 100A、环境和管壳额定的反向阻断三极晶闸管空白详细规范 | 现行 | 2005-10-01 | 找相似 |
| GB/T 13150-2005 | 半导体器件 分立器件 电流大于 100A、环境和管壳额定的双向三极晶闸管空白详细规范 | 现行 | 2005-10-01 | 找相似 |
| GB/T 6589-2002 | 半导体器件 分立器件 第3-2部分:信号(包括开关)和调整二极管 电压调整二极管和电压基准二极管(不包括温度补偿精密基准二极管) 空白详细规范 | 现行 | 2003-05-01 | 找相似 |
| GB/T 14031-1992 | 半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理 | 现行 | 1993-08-01 | 找相似 |
| GB/T 44181-2024 | 空间环境 宇航用半导体器件在轨单粒子翻转率预计方法 | 现行 | 2024-07-24 | 找相似 |
| GB/T 15653-1995 | 金属氧化物半导体气敏元件测试方法 | 现行 | 1996-04-01 | 找相似 |
| GB/T 14844-2018 | 半导体材料牌号表示方法 | 现行 | 2019-11-01 | 找相似 |
| GB/T 15529-1995 | 半导体发光数码管空白详细规范 | 现行 | 1995-11-01 | 找相似 |
| GB/T 43040-2023 | 半导体集成电路 AC/DC变换器测试方法 | 现行 | 2024-04-01 | 找相似 |
| DB61/T 1448-2021 | 大功率半导体分立器件间歇寿命试验规程 [陕西省] | 废止 | 2021-04-22 | 找相似 |
| GB/T 17574.9-2006 | 半导体器件 集成电路 第2-9部分：数字集成电路 紫外光擦除电可编程MOS只读存储器空白详细规范 | 现行 | 2007-05-01 | 找相似 |
| GB/T 17574.11-2006 | 半导体器件 集成电路 第2-11部分：数字集成电路 单电源集成电路电可擦可编程只读存储器 空白详细规范 | 现行 | 2007-05-01 | 找相似 |