The inspecting method of AB microscopic defect in gallium arsenide single crystal
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 14999.1-2012 | 高温合金试验方法 第1部分：纵向低倍组织及缺陷酸浸检验 | 废止 | 2013-05-01 | 找相似 |
| GB/T 7736-2008 | 钢的低倍缺陷超声波检验法 | 废止 | 2009-05-01 | 找相似 |
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| JB/T 6062-1992 | 焊缝渗透检验方法和缺陷迹痕的分级 | 废止 | 1993-07-01 | 找相似 |
| JB/T 6061-1992 | 焊缝磁粉检验方法和缺陷磁痕的分级 | 废止 | 1993-07-01 | 找相似 |
| DB53/T 154.8-2006 | 思茅小粒种咖啡综合标准 第8部分:咖啡缺陷豆和异物检验与测定 | 废止 | 2006-06-01 | 找相似 |
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| GB/T 35306-2023 | 硅单晶中碳、氧含量的测定 低温傅立叶变换红外光谱法 | 现行 | 2024-03-01 | 找相似 |
| GB/T 12964-2018 | 硅单晶抛光片 | 现行 | 2019-06-01 | 找相似 |
| GB/T 26069-2022 | 硅单晶退火片 | 现行 | 2022-10-01 | 找相似 |
| GB/T 12962-2015 | 硅单晶 | 现行 | 2017-01-01 | 找相似 |
| JY/T 0588-2020 | 单晶X射线衍射仪测定小分子化合物的晶体及分子结构分析方法通则 | 现行 | 2020-12-01 | 找相似 |
| GB/T 26065-2010 | 硅单晶抛光试验片规范 | 现行 | 2011-10-01 | 找相似 |
| GB/T 29421-2012 | 钒酸盐双折射光学单晶元件 | 现行 | 2013-08-01 | 找相似 |
| GB/T 24581-2022 | 硅单晶中III、V族杂质含量的测定 低温傅立叶变换红外光谱法 | 现行 | 2022-10-01 | 找相似 |
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