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GB/T 15136-1994
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半导体集成电路石英钟表电路测试方法的基本原理 |
废止 |
1995-02-01 |
找相似 |
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GB/T 4377-1996
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半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理 |
废止 |
1997-01-01 |
找相似 |
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JB/T 5580-1991
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半导体集成电路机电仪专用数字电路测试方法 |
现行 |
1992-07-01 |
找相似 |
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YD/T 1763.2-2011
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TD-SCDMA/WCDMA 数字蜂窝移动通信网 通用集成电路卡（UICC）与终端间Cu接口测试方法 第2部分：终端通用用户识别模块（USIM）应用特性 |
现行 |
2012-02-01 |
找相似 |
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YD/T 6154-2024
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嵌入式通用集成电路卡（eUICC）数据兼容性技术要求和测试方法 |
现行 |
2025-04-01 |
找相似 |
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YD/T 2522-2013
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CDMA数字蜂窝移动通信网通用集成电路卡（UICC）与终端间接口测试方法 支持CSIM应用的UICC |
现行 |
2013-06-01 |
找相似 |
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YD/T 2582.2-2013
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LTE 数字蜂窝移动通信网 通用集成电路卡(UICC)与终端间Cu接口测试方法 第2部分：支持LTE的通用用户识别模块应用工具箱（USAT）特性 |
现行 |
2013-07-22 |
找相似 |
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YD/T 2582.1-2013
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LTE 数字蜂窝移动通信网 通用集成电路卡(UICC)与终端间Cu接口测试方法 第1部分：支持LTE的通用用户识别模块（USIM）应用特性 |
现行 |
2013-07-22 |
找相似 |
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YD/T 2523-2013
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CDMA数字蜂窝移动通信网通用集成电路卡（UICC）与终端间接口测试方法 终端CCAT应用特性 |
现行 |
2013-06-01 |
找相似 |
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SJ/T 12024-2025
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半导体设备 集成电路制造 用离子注入机测试方法 |
现行 |
2026-03-01 |
找相似 |
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SJ/T 12023-2025
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半导体设备 集成电路制造用化学气相淀积设备(CVD)测试方法 |
现行 |
2026-03-01 |
找相似 |
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JJF 1160-2006
|
中小规模数字集成电路测试设备校准规范 |
现行 |
2007-03-08 |
找相似 |
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JJG 1015-2006
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通用数字集成电路测试系统 |
现行 |
2007-03-08 |
找相似 |
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YD/T 6783-2026
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工业互联网标识解析 主动标识载体 通用集成电路卡测试方法 |
即将实施 |
2026-08-01 |
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GB/T 43536.3-2026
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三维集成电路 第3部分：硅通孔模型及测试方法 |
即将实施 |
2027-02-01 |
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GB/T 48178-2026
|
集成电路电子设计自动化工具测试方法 |
即将实施 |
2027-03-01 |
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GB/T 42968.5-2025
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集成电路 电磁抗扰度测量 第5部分：工作台法拉第笼法 |
现行 |
2025-12-02 |
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JR/T 0025.7-2018
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中国金融集成电路（IC）卡规范 第7部分：借记/贷记应用安全规范 |
现行 |
2018-11-28 |
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