DB51/T 3207-2024 相似标准 第4页

更新时间 2026-10-31
标准号标准名称状态实施日期相似标准
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GB/T 36477-2018半导体集成电路 快闪存储器测试方法现行2019-01-01找相似
GB/T 14115-1993半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理现行1993-08-01找相似
GB/T 42975-2023半导体集成电路 驱动器测试方法现行2024-01-01找相似
YD/T 1763.4.4-2016TD-SCDMA/WCDMA 数字蜂窝移动通信网 通用集成电路卡(UICC)与终端间Cu接口测试方法 第4部分:支持通用用户识别模块(USIM)应用的UICC现行2016-07-01找相似
YD/T 3037.1.1-2016通用集成电路卡(UICC) 与终端间USB接口特性测试方法 第1部分:终端现行2016-07-01找相似
YD/T 3037.2.2-2016通用集成电路卡(UICC) 与终端间USB接口特性测试方法 第2部分:UICC现行2016-07-01找相似
YD/T 1763.1-2011TD-SCDMA/WCDMA 数字蜂窝移动通信网 通用集成电路卡(UICC)与终端间Cu接口测试方法 第1部分:物理、电气和逻辑特性现行2012-02-01找相似
YD/T 1763.3-2011TD-SCDMA/WCDMA 数字蜂窝移动通信网 通用集成电路卡(UICC)与终端间Cu接口测试方法 第3部分:终端通用用户识别模块应用工具箱(USAT)特性现行2012-02-01找相似
YD/T 2348-2011CDMA数字蜂窝移动通信网通用集成电路卡(UICC)与终端间接口测试方法 终端CSIM应用特性现行2012-02-01找相似
YD/T 3514-2019嵌入式通用集成电路卡(eUICC)远程管理平台测试方法(第一阶段)现行2020-01-01找相似
YD/T 3515-2019支持远程管理的嵌入式通用集成电路卡(eUICC)测试方法(第一阶段)现行2020-01-01找相似
JJF 1238-2022集成电路静电放电敏感度测试设备校准规范现行2023-03-26找相似
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SJ/Z 11352-2006集成电路IP核测试数据交换格式和准则规范废止2006-12-01找相似
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YD/T 1763.4-2011TD-SCDMA/WCDMA 数字蜂窝移动通信网 通用集成电路卡(UICC)与终端间Cu接口测试方法 第4部分:支持终端通用用户识别模块(USIM)应用的通用集成电路卡(UICC)废止2012-02-01找相似
GB/T 14028-1992半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理废止1993-08-01找相似