半导体集成电路 快闪存储器测试方法

Semiconductor integrated circuit—Measuring methods for flash memory

GB/T 36477-2018 推荐性国家标准

现行

标准状态

发布日期

2018-06-07

实施日期

2019-01-01

基础信息

标准号

GB/T 36477-2018

批准发布部门

工业和信息化部(电子)

发布部门

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会

技术归口

工业和信息化部(电子)

标准分类

中国标准分类号

L56

国际标准分类号

31.200

标准层级

国家标准

专题

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