General principles of measuring methods of Sample/Hold amplifiers for semiconductor integrated circuits
现行
1993-01-21
1993-08-01
GB/T 14115-1993
工业和信息化部（电子）
国家技术监督局
工业和信息化部（电子）
L56
31.200
国家标准
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
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