Microbeam analysis—Transmission electron microscopy—Method for measuring the thickness of functional thin films in integrated circuit chips
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GA/T 1937-2021 | 法庭科学 橡胶检验 扫描电子显微镜/X射线能谱法 | 现行 | 2021-10-14 | 2022-05-01 |
| GA/T 1939-2021 | 法庭科学 电流斑检验 扫描电子显微镜/X射线能谱法 | 现行 | 2021-10-14 | 2022-05-01 |
| GA/T 1938-2021 | 法庭科学 金属检验 扫描电子显微镜/X射线能谱法 | 现行 | 2021-10-14 | 2022-05-01 |
| SN/T 2649.1-2010 | 进出口化妆品中石棉的测定 第1部分：X射线衍射-扫描电子显微镜法 | 现行 | 2010-11-01 | 2011-05-01 |
| GB/T 5594.8-2015 | 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分：显微结构的测定方法 | 现行 | 2015-05-15 | 2016-01-01 |
| SF/T 0139-2023 | 泥土检验 扫描电子显微镜/X射线能谱法 | 现行 | 2023-10-07 | 2023-12-01 |
| GB/T 4937.35-2024 | 半导体器件 机械和气候试验方法 第35部分：塑封电子元器件的声学显微镜检查 | 现行 | 2024-03-15 | 2024-07-01 |
| GB/T 43196-2023 | 纳米技术 扫描电子显微术测量纳米颗粒粒度及形状分布 | 现行 | 2023-09-07 | 2024-04-01 |
| DB32/T 3459-2018 | 石墨烯薄膜微区覆盖度测试 扫描电子显微镜法 | 现行 | 2018-11-09 | 2018-11-30 |
| GA/T 909-2010 | 微量物证的提取、包装方法 扫描电子显微镜/能谱法检验射击残留物 | 现行 | 2010-12-08 | 2010-12-08 |
| GB/T 32869-2016 | 纳米技术 单壁碳纳米管的扫描电子显微术和能量色散X射线谱表征方法 | 现行 | 2016-08-29 | 2017-03-01 |
| GB/T 19267.6-2008 | 刑事技术微量物证的理化检验 第6部分：扫描电子显微镜/X射线能谱法 | 现行 | 2008-08-14 | 2009-03-01 |
| GB/T 34831-2017 | 纳米技术 贵金属纳米颗粒电子显微镜成像 高角环形暗场法 | 现行 | 2017-11-01 | 2018-05-01 |
| GB/T 34831-2017 | 纳米技术 贵金属纳米颗粒电子显微镜成像 高角环形暗场法（外文版EN） | 现行 | 2023-11-02 | |
| JJF 1916-2021 | 扫描电子显微镜校准规范 | 现行 | 2021-07-28 | 2022-01-28 |
| JB/T 6842-1993 | 扫描电子显微镜 试验方法 | 废止 | 1993-07-09 | 1994-01-01 |
| JB/T 5481-1991 | 电子显微镜用灯丝 | 废止 | 1991-07-15 | 1992-07-01 |
| JB/T 5480-1991 | 电子显微镜用光阑 | 废止 | 1991-07-15 | 1992-07-01 |